半导体芯片高低温冲击测试设备 返回列表页

半导体芯片高低温冲击测试设备 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆广泛运用于电子行业的高低温冲击测试，包括：PCB板、舰船、仪表、光电、通信通讯、LED半导体、电线电缆、电脑零部件、电工、电子、汽车配件、计算机、变压器、照明灯具、五金制品、连接器端子、电源电阻等产品。

高低温冲击测试设备规格与型号：

TS-49 内箱尺寸：400×350×350 外箱尺寸：1400×1800×1400

TS-80 内箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1550×1950×1550

TS-150 内箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1600×2000×1700

TS-252 内箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1700×2100×1750

TS-450 内箱尺寸：800×750×750 外箱尺寸：1800×2200×1900

TS-900 内箱尺寸：1000×900×900 外箱尺寸：2100×2400×2200

高低温冲击测试设备箱体结构特点：

箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。

箱体内胆采用进口不锈钢（SUS304）镜面板，箱体外胆采用A3钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。

大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。

箱体左侧配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。

控制器：

温度控制采用全进口触摸按键式仪表，操作设定简单。

资料及试验条件输入后，控制器具有锁定功能，避免人为触摸而改变温度值。

具有P.I.D自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控制更为稳定。

电器控制主件采用进口元件，更好地控制温度。

高低温冲击测试设备制冷系统：

制冷机采用法国“泰康"全封闭压缩机。

进口干燥过滤器，进口油分离器，进口电磁阀。

冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。

采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。

风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。

升温、降温、系统可提高速率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。

半导体芯片高低温冲击测试设备厂家售后服务：

售前服务：产品销售前为客户免费提供技术方案，并可根据客户要求提供现场讲解和技术咨询服务。

售后服务：产品销售后派出人员为客户免费提供使用培训，现场指导产品的使用和维护。

质量保证：该产品进行三包，质保期为验收之日起壹年，在保质期内产品发生非人为质量问题，艾思荔公司为客户提供免费维修。

维修服务：我公司对所用产品提供终生维修服务。如产品在质保期外出现故障，维修服务只收取元器件费用。