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膜厚測試儀 膜厚測試儀價格

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更新時間:2015-10-28 16:40:00瀏覽次數(shù):589次

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膜厚測試儀,分為磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。 采用磁感應原理時,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。

原理
采用磁感應原理時,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測量感應電動勢的大小,儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設(shè)計的集成電路,引入微機,使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達一個數(shù)量級)?,F(xiàn)代的磁感應測厚儀,分辨率達到0.1um,允許誤差達1%,量程達10mm。
磁性原理測厚儀可應用來精確測量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

X射線衍射裝置
 簡單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。
 
  具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽(氯化鈉=NaCl)時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會認為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當測定含多種化合物的物質(zhì)時只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進行定性。
主要特點
★ 自動對焦功能 。配備激光自動對焦功能,能夠準確對焦,提高測量效率。
 
  ★ 具有焦點距離切換功能,適用于有凹凸的機械部件與電路板的底部進行測量
 
  ★ 采用檢量線法和FP法,兩個準直器可自動切換,采用激光自動對焦,并配備有Z軸防沖撞傳感器,可防
 
  止在對焦時造成的損壞。
 
  ★ 選用Mo靶材X射線管,測量貴金屬更靈敏。
 
  ★ 支持多種語言的軟件系統(tǒng)。簡體中文、繁體中文、英語、日語、韓語
 
  ★ 搭載樣品尺寸的兼容性
 
  可適用于各種樣品,能夠通過一臺儀器測量,從電子部件、電路板到機械部件等高度較高的樣品,從較厚
 
  的樣品(機械零部件)之大型線路板(PCB)及電子元器件等
 
  ★ 鹵素燈照明
 
  ★ 即時生成測量報告的便捷性 。運用搭載的Microsoft Word? Excel? 可以簡單輕松得到制作報告
 
  ★ 多種修正功能。基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正
 
  ★ 搭載了電動X-Y移動平臺
 
  進口日本精工(SFT9200)X-RAY熒光無損金屬薄膜電鍍層厚度測量儀
 
  SFT9200是精工膜厚儀系列中普及型
 
  用途:檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器,保證鍍層厚度品質(zhì),減少電鍍成本浪費
 
  「SFT9200系列」繼承了擁有了20多年歷史及光輝業(yè)績的「SFT系列」(操作性與可靠性共存)的優(yōu)點,并不斷地發(fā)展,成為可對應較廣應用范圍的X射線熒光鍍層厚度測量儀[新標準機型]。
 
  產(chǎn)品副名稱:應用范圍較廣的標準型鍍層厚度測量儀
 
  產(chǎn)品型號:SFT9200、SFT9250、SFT9255
 
  技術(shù)參數(shù):
 
  儀器的特長:廣泛應用型
 
  可測元素:Ti~U
 
  X射線管:小型空氣冷卻型高功率X射線管球(W靶)管電壓:45kV 管電流:1mA Be窗
 
  濾波器:
 
  一次濾波器:A1-自動切換
 
  二次濾波器:Co-自動切換
 
  檢測器:比例計數(shù)管
 
  樣品觀察:CCD攝像機
 
  對焦方式:激光自動對焦
 
  測定軟件:薄膜FP法、檢量線法
 
  5個準直器可自動切換
 
  型(Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm)
 
  型(0.2×0. 05 mm、0.05×0.02 mm)
 
  安全機能:測量室門自鎖功能
 
  Z軸防沖撞功能
 
  儀器自診斷功能
 
  儀器介紹:
 
  SFT系列中標準型儀器
 
  濾波器
 
  另有SFT9250、SFT9255兩種機型
 
  標準配備有Windows2000中文操作界面
 
  采用檢量線法和FP法,測量數(shù)據(jù)與Word和Excel鏈接
 
  自動生成報告和數(shù)據(jù)處理
 
  5個準直器可自動切換
 
  工作臺3維電動,可編程進行自動測量
 
  采用激光自動對焦,并配備有Z軸防沖撞傳感器
 
  可防止在對焦時造成儀器的損壞。
 
  產(chǎn)品特點:
 
  能夠測量無鉛焊錫
 
  配備了薄膜FP法,可以同時測量Sn-Ag,Sn-Bi,Sn-Cu等,無鉛焊錫的鍍層后與成份
 
  搭載中心搜索軟件
 
  通過掃描樣品可以自動檢測出線及基板點面部分的測量中心位置。
 
  擁有防沖功能
 
  搭載激光對焦系統(tǒng)
 
  搭載測試報告自動生成軟件
 
  擁有自動測量軟件以及中心搜索軟件
 
  搭載了薄膜FP法軟件
 
  X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波??梢暪饩€的波長為0.000001 m (1μm)左右,X射線比其短為0.000000000001 m至0.00000001 m (0.01- 100 ?)左右。
 
  對某物質(zhì)進行X射線照射時,可以觀測到主要以下3種X射線。
 
 ?。?) 螢光X射線
 
 ?。?) 散亂X射線
 
  (3) 透過X射線
 
  SII的產(chǎn)品是利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學透視照片。另外也用于機場的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類。
 
  簡單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。
 
  具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽(氯化鈉=NaCl)時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會認為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當測定含多種化合物的物質(zhì)時只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進行定性。

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