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產(chǎn)地	國產(chǎn)	加工定制	是

鼎極天電子供應(yīng)手持式面銅測厚儀CMI563專為測量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設(shè)計(jì)。

鼎極天電子供應(yīng)手持式面銅測厚儀CMI563功能：

測量時(shí)，連續(xù)顯示/更新平均、標(biāo)準(zhǔn)偏差、讀數(shù)數(shù)目
內(nèi)存可存儲100組、10,000 個(gè)讀數(shù)
內(nèi)置時(shí)鐘可更新存儲數(shù)據(jù)，并給每個(gè)數(shù)據(jù)附上測量時(shí)間。
USB, IR 和系列輸出選項(xiàng)，可用于與打印機(jī)和電腦簡單連接。
背光顯示，可在黑暗環(huán)境中使用。
密耳和微米之間轉(zhuǎn)換
可選擇多種語言: 英語、西班牙語、法語、德語、葡萄牙語、中文、日語、挪威語、俄語、捷克斯洛法克語、意大利語

鼎極天電子供應(yīng)手持式面銅測厚儀CMI563操作指導(dǎo)：

1）當(dāng)測量中出現(xiàn)示值顯示不穩(wěn)定現(xiàn)象時(shí)，其主要原因可能是工件自身材料結(jié)構(gòu)的特殊性影響，例如工件本身可能是磁性材料，如果確認(rèn)是磁性材料，那么就應(yīng)該選擇磁性涂鍍層膜厚儀；如果工件為導(dǎo)電體，就應(yīng)該選擇渦流涂鍍層膜厚儀。另外工件的表面粗糙度和附著物也會引起儀器示值顯示不穩(wěn)定，例如工件表面粗糙度過大、表面附著物太多，測量時(shí)，側(cè)頭不能準(zhǔn)確穩(wěn)定地接觸工件，因而造成測量示數(shù)波動。排除故障主要就是將粗糙度比較大的工件打磨平整，除去表面附著物，并且選擇合適的涂層膜厚儀；

2）測量結(jié)果誤差太多。引起涂鍍層膜厚儀測量誤差大的原因主要有基體金屬磁化、基體金屬厚度過小、邊緣效應(yīng)、工件曲率過小、表面粗糙度過大、磁場干擾和測頭的放置方法等。在測量時(shí)應(yīng)該逐一進(jìn)行考慮并認(rèn)真研究，zui大程度地排除干擾，使測量準(zhǔn)確；

3）當(dāng)儀器長時(shí)間不使用時(shí)應(yīng)該取出電池，在使用過程中，如果儀器出現(xiàn)低電壓提示，應(yīng)該及時(shí)為儀器更換電池，更換電池時(shí)要注意電池極性，防止裝反，并且要使用正規(guī)廠家生產(chǎn)的優(yōu)質(zhì)電池，從而避免因?yàn)殡姵氐男孤抖廴緝x器甚至導(dǎo)致儀器的損壞；

4）在具體測量過程中，儀器每次的測量數(shù)據(jù)通常都有一定波動，一次測量誤差太大，因此在測量時(shí)必須在每一測量面積內(nèi)反復(fù)多次測量讀數(shù)，處理數(shù)據(jù)時(shí)要排除誤差過大的數(shù)據(jù)，對波動值取平均值，以zui大程度地降低因操作和儀器引起的測量誤差。一般來說，測量次數(shù)越多，zui終數(shù)據(jù)越接近準(zhǔn)確值，但是為了操作簡便，一般每一測量面積內(nèi)進(jìn)行三到五次測量；

5）在測量時(shí)應(yīng)該注意儀器的zui大臨界厚度值，因?yàn)槿绻ぜ穸冗^大乃至超過儀器測量的臨界厚度值，測量就不受基體金屬厚度的影響。因此在測量前一定要檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果超過了，就需要進(jìn)行適當(dāng)校準(zhǔn)，保證要測量正常準(zhǔn)確進(jìn)行；

6）試件表面附著物在很大程度上影響著測量穩(wěn)定性和測量精度，因此在測量前必須首先清除試件表面附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但是注意不要除去任何覆蓋層物質(zhì)，在保證儀器測頭和被測試件表面直接穩(wěn)定接觸的情況下不減少覆蓋層厚度。

鼎極天電子供應(yīng)手持式面銅測厚儀CMI563儀器要求
鍍層厚度要求在陰極表面上分布的均勻性和完整性，是決定鍍層厚度要求質(zhì)量的一個(gè)重要因素，它在一定程度上影響著鍍層厚度要求的防護(hù)性能。在電鍍中常用分散能力和覆蓋能力來分別評定金屬鍍層厚度要求在陰極上分布的均勻性和完整性。鍍層厚度要求在零件上分布的完整程度。覆蓋能力，鍍得越深，覆蓋能力差，在零件凹處就鍍不上金屬鍍層厚度要求。鍍液的分散能力與覆蓋能力的含義不同，要注意區(qū)別，不要混淆。

儀器參數(shù)

型號	MAXXI 5	MAXXI 5 PIN	備注
測量元素范圍	Ti²²---U⁹²
鍍層和成分分析	Ø 鍍層：zui多同時(shí)測定5層（4層鍍層+基體材料） Ø 成分：zui多同時(shí)測量20種元素
測量方法	Ø FP（經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)法），無需標(biāo)準(zhǔn)樣片
X射線激發(fā)	Ø 50Kv、1.2mA(60W)發(fā)生器 Ø 微聚焦W靶X射線管
成像系統(tǒng)	Ø 彩色視頻系統(tǒng) Ø 20倍放大倍數(shù) Ø 被測樣品圖像實(shí)時(shí)顯示功能 Ø 電腦顯示屏具有畫中畫功能
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)	Ø Inter Pentium G2030，內(nèi)存2G，硬盤500G Ø 17吋液晶彩色顯示器 Ø Microsoft^TM Win7 32bit
樣品臺規(guī)格	Ø X-Y手動樣品臺：600×600mm，zui大承重25Kg Ø X-Y程控樣品臺：X-Y臺面尺寸300×250mm，zui大承重5Kg
儀器外形	長×寬×gao700×770×700mm（不含電腦、顯示器）
zui大樣品	Ø X-Y手動樣品臺：長×寬×gao600×500×350mm Ø X-Y程控樣品臺：長×寬×gao600×500×180mm
程控Z軸移動距離	≤180mm，可使用鼠標(biāo)或手柄控制
主機(jī)重量	90Kg（不含電腦、顯示器）
準(zhǔn)直器規(guī)格	Ø 可選單準(zhǔn)直器、多準(zhǔn)直器 Ø 多準(zhǔn)直器程控交換 Ø 可選園形、矩形準(zhǔn)直器 Ø 單準(zhǔn)直器任選：Ø0.2、Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.3mm Ø 多準(zhǔn)直器選項(xiàng)：①Ø0.2、0.06×0.06、0.05×0.15、0.1×0.2mm；②Ø0.1、Ø0.20、0.06×0.06、0.05×0.15mm	Ø 可選單準(zhǔn)直器、多準(zhǔn)直器 Ø 多準(zhǔn)直器程控交換 Ø 可選園形、矩形準(zhǔn)直器 Ø 單準(zhǔn)直器任選：Ø0.3、Ø0.4、Ø0.5、0.2×0.5mm Ø 多準(zhǔn)直器：Ø0.3、Ø0.5、0.1×0.7、0.2×0.7mm
探測器	正比例計(jì)數(shù)器	25mm²半導(dǎo)體（Si-PIN）探測器，Peltier電制冷
軟件模塊可選	μ-Master用于鍍層測量 Element--Master用于材料分析 %-Master用于材料分析（珠寶） Report-Master用于微軟報(bào)告文件 Data-Master用于數(shù)據(jù)庫管理 Liquid-Master用于電鍍液分析
產(chǎn)地	德國

優(yōu)質(zhì)手持式磁感應(yīng)膜厚儀批發(fā)價(jià)格原理：

膜厚儀是采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時(shí)，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī).現(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。