原子級的納米分析

牛津儀器作為納米分析系統(tǒng)生產(chǎn)廠家中的，zui近發(fā)布了透射電鏡上配備的能譜儀。該能譜儀的靈敏度代表了當前SDD探頭技術(shù)的zui高水平。這款X-MaxN 100TLE探頭為工作在納米科學(xué)前沿的場發(fā)射和球差矯正TEM用戶提供了的解決方案。

X-MaxN 100TLE探頭應(yīng)用了有效面積100mm2的晶體，無窗設(shè)計，提供超大固體角的新穎機械設(shè)計。以N Ka X射線為例，其有效固體角比傳統(tǒng)的30mm2 SDD探頭大了12倍。這意味著用戶可以檢測到更低濃度的元素，例如納米級別的雜質(zhì)和參雜物。另一個好處是可以在電子束破壞敏感樣品前采集到更多的數(shù)據(jù)。

正如牛津儀器納米分析市場總監(jiān)Del Redfern說“這是我們SDD探頭中的旗艦產(chǎn)品，它體現(xiàn)了靈敏度和速度的大飛躍。在高分辨TEM的試驗中，我們甚至可以在60秒內(nèi)采集到原子列面分布圖。"

納米分析部

納米分析是能夠在納米級別進行材料表征及樣品處理的工具。 利用電子顯微鏡以及離子束系統(tǒng)，我們的設(shè)備可廣泛應(yīng)用于學(xué)術(shù)研究和工業(yè)應(yīng)用，包括半導(dǎo)體、可再生能源、采礦、冶金以及法醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域