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9256次CMI700測試原理:
通過渦流的原理來測量的,ETP探頭上有一根探針,探針是由兩個線圈組成的,測量時其中一個線圈發(fā)射電磁場,導體內(nèi)部自由電子在電磁場中做圓周運動,產(chǎn)生回旋電流(即渦流),渦流再產(chǎn)生一個與該線圈產(chǎn)生的電磁場方向相反的電磁場,由另一個線圈接收,產(chǎn)生電信號,由于孔銅厚度不同而此信號大小不同而測量出孔銅厚度。這樣可以看出金屬的電導率不同其產(chǎn)生電信號強弱也不同,所以測出的厚度也不一樣.所以要設定基材銅(面銅)﹑板厚和蝕刻前后項目.示意圖如下:
2. 面銅(SRP-4)測試原理
通過微電阻原理來測量的,SRP探頭上有四根探針,靠外面兩根探針是一個恒流源, 靠里面兩根探針是一個電壓表. 測量時必需是四根探針同時接觸被測銅表面,形成回路.根據(jù)公式R=U/I可得出電阻R,再根據(jù)R=p×L/S可再計算出銅厚度.這樣可以看出此時的銅厚與其橫截面積的大小有很大關系. 所以測量不同寬度的面銅時需選用不同的標準片校準.如上圖所示:
1:電源要求:AC220V 50Hz
2:工作環(huán)境:常溫、相對濕度小于65%,沒有冷凝水
3:儀器周圍無強烈震動
4:儀器周圍無高強電磁干擾
5:ETP探頭注意事項
ETP探頭由聯(lián)接線,電柱和探針構(gòu)成,使用探頭時需小心謹慎以免損傷影響其壽命,為大化延長探頭使用壽命,請注意以下幾點:
6:SRP探頭使用注意事項
確保探頭4個探針能夠*接觸到銅面上,否則無法感應信號;
不可將探頭在銅面上滑動,以免劃傷銅面及減少探針使用壽命;
由于該探頭為高精密部件,不可使探頭線出現(xiàn)扭、折、拉、扯的現(xiàn)象,否則會導致探頭線損壞。
7:建議:建議探針盡量避免在高溫或有藥水上面的板上測量,會使探針壽命縮短,ETP探頭和SRP-4探頭均為損耗件,規(guī)范的操作將有助于延長探頭使用壽命。孔銅探頭與面銅探針(不含線),實驗室理論壽命約30萬次,現(xiàn)實使用測量中,因測量中線路板時,可能會遇到板子剛烘干有高溫、板上有藥水(高溫與藥水會磨蝕探頭,減少壽命,但不影響測量精度)、或人為測量磨損,實際壽命8-10萬次左右
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