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國(guó)內(nèi)市場(chǎng)上*:膜厚儀性、膜厚測(cè)試儀、鍍層測(cè)厚儀、金厚測(cè)試儀儀器原理、性能、精度、價(jià)格對(duì)比表:
品牌: | 原牛津儀器(Oxford) 2017年被日本日立(HITACHI)收購(gòu) | 美國(guó)博曼(BOWMAN) | 德國(guó)菲希爾(Fischer) |
型號(hào) | X-Strata920 | BA-100 | XDLM-PCB 200 |
產(chǎn)地(測(cè)試主機(jī)) | 上海 | 美國(guó)佛羅里達(dá)州 | 江蘇南通 |
圖片(半自動(dòng)臺(tái)) | X-Strata920(MWS)固定式樣品臺(tái)半自動(dòng)臺(tái): 樣品臺(tái)高度固定,測(cè)量樣品高度不超過(guò)33MM,外形尺寸:寬407*深770*高305mm | BA-100-SFF半自動(dòng)臺(tái):Z軸自動(dòng)控制方式,Z軸行程132mm;樣品倉(cāng)尺寸(高*寬*深mm):140*310*340;機(jī)箱(高*寬*深mm):450*450*600 | XDLM-PCB 200半自動(dòng)臺(tái):固定式樣品平臺(tái),帶有手動(dòng)彈出功能,Z軸需手動(dòng),可用樣品臺(tái)平臺(tái)面積600*600mm,有加長(zhǎng)樣品臺(tái)時(shí)1200*900mm;外部尺寸(寬*深*高mm):570*760*650;帶有加長(zhǎng)平臺(tái)時(shí):1200*1050*450 |
圖片(全自動(dòng)臺(tái)) | X-Strata920(AM)全自動(dòng)臺(tái):可提供對(duì)樣品的自動(dòng)和編程控制;樣品臺(tái)尺寸:寬610*深560mm;樣品臺(tái)移動(dòng)行程:178*178mm;測(cè)量樣品高度不超過(guò)33mm | BA-100-MVM全自動(dòng)臺(tái):可提供對(duì)樣品的自動(dòng)和編程控制;自動(dòng)Z軸行程132mm;XY樣品臺(tái)面積有350*400mm\500*600mm\600*600mm三種可選;XY行程:127*152mm | XDLM231為固定式樣品平臺(tái);232為手動(dòng)X/Y平臺(tái);237為可驅(qū)動(dòng)可編程X/Y平臺(tái)
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原理 | X射線熒光(XRF)儀器的工作原理是對(duì)被測(cè)樣品發(fā)射一束一次X射線,樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個(gè)化學(xué)元素會(huì)釋放出特定能量的X射線。通過(guò)測(cè)量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強(qiáng)度,X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y(cè)材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量的分析 | X射線熒光(XRF)儀器的工作原理是對(duì)被測(cè)樣品發(fā)射一束一次X射線,樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個(gè)化學(xué)元素會(huì)釋放出特定能量的X射線。通過(guò)測(cè)量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強(qiáng)度,X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y(cè)材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量的分析 | X射線熒光(XRF)儀器的工作原理是對(duì)被測(cè)樣品發(fā)射一束一次X射線,樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個(gè)化學(xué)元素會(huì)釋放出特定能量的X射線。通過(guò)測(cè)量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強(qiáng)度,X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y(cè)材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量的分析 |
應(yīng)用范圍 | 線路板行業(yè),汽車行業(yè),緊固件,電子元器件,端子連接器,半導(dǎo)體,能源行業(yè),陶瓷衛(wèi)浴、貴金屬等 | 線路板行業(yè),汽車行業(yè),緊固件,電子元器件,端子連接器,半導(dǎo)體,能源行業(yè),陶瓷衛(wèi)浴、貴金屬等 | 線路板行業(yè),汽車行業(yè),緊固件,電子元器件,端子連接器,半導(dǎo)體,能源行業(yè),陶瓷衛(wèi)浴、貴金屬等 |
測(cè)量元素范圍 | 22號(hào)鈦元素-92號(hào)鈾元素,可同時(shí)分析合金材料內(nèi)多25種元素含量 | 13號(hào)鋁元素-92號(hào)鈾元素,每層多可含10種元素,可同時(shí)分析合金材料內(nèi)多25種元素含量 | 17號(hào)氯元素-92號(hào)鈾元素,可多同時(shí)測(cè)量24種元素 |
分析能力 | 鍍層:多同時(shí)測(cè)5層(4層鍍層+基材) | 鍍層:多同時(shí)測(cè)5層(4層鍍層+基材) | 鍍層:多同時(shí)測(cè)5層(4層鍍層+基材) |
X射線管 | 微聚焦型射線管鎢靶。 標(biāo)定功率50瓦,設(shè)計(jì)額定功率200瓦。 不銹鋼管,光管使用2年后容易出現(xiàn)漏油、掉電流 | 微聚焦型射線管鎢靶。 標(biāo)定功率50瓦,設(shè)計(jì)額定功率300瓦。 銅管體設(shè)計(jì)大功率更高,銅管體相比不銹鋼管體散熱性能更好,壽命更長(zhǎng)一般使用3-7年 | 標(biāo)準(zhǔn)射線管鎢靶。 沒(méi)有微聚焦,發(fā)出的斑點(diǎn)較大 |
X射線照射方向 | 從上往下 | 從上往下 | 從上往下 (菲希爾XULM型號(hào)從下往上測(cè)量,建議不要購(gòu)買(mǎi)、這種測(cè)量方式目前市場(chǎng)早已淘汰) |
激發(fā)電壓 | 45Kv固定,不能切換 | 0-50Kv連續(xù)可調(diào)激發(fā)條件可根據(jù)實(shí)際樣品情況進(jìn)行優(yōu)化,獲取測(cè)量性能 | 30Kv、40Kv、50Kv三種固定切換 |
探測(cè)器類型 及分辨率 | 封氣比例接收器(PC) 壽命一般為3-5年 分辨率約900eV (比例接收器,能量分辨率很低,因?yàn)槭菤怏w探測(cè)器,容易受環(huán)境溫濕度影響,時(shí)常出現(xiàn)干擾,儀器必須經(jīng)常用標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn),目前市場(chǎng)上已漸漸淘汰比例接收器)。 | 硅-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器(PIN) 壽命一般為10年以上 分辨率優(yōu)于190eV (搭載高分辨率的固態(tài)探測(cè)器,能量分辨率更高,測(cè)量相鄰元素更,儀器無(wú)需二次濾波器,峰位長(zhǎng)時(shí)間保持穩(wěn)定,無(wú)需頻繁地用標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)儀器) 使用硅PIN探測(cè)器元素分辨率更好,有效排除元素之間的干擾。 | 封氣比例接收器(PC) 壽命一般為3-5年 分辨率約900eV (比例接收器,能量分辨率很低,因?yàn)槭菤怏w探測(cè)器,容易受環(huán)境溫濕度影響, 另外Fischer 只有在XDAL型號(hào)配置了半導(dǎo)體探測(cè)器售價(jià)60萬(wàn)以上) |
探測(cè)器類型解析 | 檢測(cè)器的發(fā)展史: 1:封氣正比計(jì)數(shù)器:高基線噪音,分辨率差,三萬(wàn)CPS的飽和度,容易飽和,受氣溫和濕度影響,經(jīng)常需要重新校準(zhǔn),四十年前的探測(cè)器。 2:Si-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器,低噪音水平,高分辨率,五萬(wàn)CPS的飽和度,不容易飽和,元素分析間隔更大,半導(dǎo)體冷卻,非常穩(wěn)定且不受氣候影響。 3:SDD硅漂移探測(cè)器,低基線噪音,高計(jì)數(shù)檢測(cè),高分辨率,一百萬(wàn)的CPS,很難飽和,廣泛的元素測(cè)量范圍,半導(dǎo)體冷卻非常穩(wěn)定且不受氣候影響。 所有Bowman XRF儀器都使用硅探測(cè)器,以獲得高分辨率,低噪音水平和大的整體穩(wěn)定性。確保實(shí)現(xiàn)的鍍層厚度測(cè)量和元素分析。
圖2為兩種探測(cè)器對(duì)比,紅色為封氣比例接收器所獲得的譜峰,綠色為硅PIN半導(dǎo)體探測(cè)器所獲得的譜峰。 封氣比例接收器所獲取的譜峰重疊現(xiàn)象嚴(yán)重。 | ||
系統(tǒng)預(yù)熱時(shí)間 | 由于采用氣態(tài)探測(cè)器,受溫濕度影響大,需要等探測(cè)器穩(wěn)定后才能開(kāi)始測(cè)量,預(yù)熱時(shí)間需要超過(guò)30分鐘。(預(yù)熱時(shí)間長(zhǎng),探測(cè)器不穩(wěn)定,結(jié)果可能隨溫濕度產(chǎn)生變化) | 射線管在出廠前經(jīng)過(guò)嚴(yán)格調(diào)教,且采用半導(dǎo)體探測(cè)器,預(yù)熱時(shí)間短,開(kāi)機(jī)后5分鐘內(nèi)可以開(kāi)始測(cè)量。 | 由于采用氣態(tài)探測(cè)器,受溫濕度影響大,需要等探測(cè)器穩(wěn)定后才能開(kāi)始測(cè)量,預(yù)熱時(shí)間需要超過(guò)30分鐘。(預(yù)熱時(shí)間長(zhǎng),探測(cè)器不穩(wěn)定,結(jié)果可能隨溫濕度產(chǎn)生變化) |
X射線光程 (射線管窗口離開(kāi)樣品表面距離) | 大于4英寸 | 小于2英寸 (BA100采用了新的技術(shù),具有更緊湊的光學(xué)結(jié)構(gòu),X射線光程短,減少射線能量損失,優(yōu)化樣品激發(fā)效果,改善測(cè)量重復(fù)性) | 大于4英寸 |
準(zhǔn)直器 | 圓形:0.1、0.15、0.2、0.3mm; 矩形:0.05 x0.25、0.05 x0.05、0.05x0.25 | 圓形:0.1、0.2、0.3、0.6mm; 矩形:0.025x0.25、0.05x0.05、0.05x0.25 | 圓形:0.1、0.2mm; 矩形:0.3*0.05, 0.05x0.05 |
成像系統(tǒng) | 30倍光學(xué)放大 (可選50倍) | 30倍光學(xué)放大 (可選50倍) | 20倍光學(xué)放大 |
Z軸聚焦方式 | 自動(dòng)激光聚焦 | 自動(dòng)激光聚焦 | 手動(dòng)聚焦,每次測(cè)量需要人工調(diào)試,聚焦效率低,不同人測(cè)量數(shù)據(jù)不一樣 |
信號(hào)及視頻處理 | 需要在電腦內(nèi)部插入的信號(hào)處理卡(MCA卡)及的視頻卡; MCA卡價(jià)格15000-18000元整,視頻卡價(jià)格2500-3000元整,因?yàn)樾枰娔X提供的插槽。電腦發(fā)生故障需要更新?lián)Q代,必須從供應(yīng)商購(gòu)買(mǎi)電腦,電腦6000-7000元整 | 無(wú)需在電腦內(nèi)部插入的信號(hào)處理卡和視頻卡, 客戶可以隨時(shí)更換電腦,日后電腦升級(jí)換代不受任何限制,客戶可直接在京東上自行購(gòu)買(mǎi)電腦更換。 | 需要在電腦內(nèi)部插入的視頻卡,視頻卡的價(jià)格2500-3000元整,并且需要電腦提供的插槽。萬(wàn)一電腦發(fā)生故障需要更新?lián)Q代,十分麻煩,只能從供應(yīng)商高價(jià)購(gòu)買(mǎi)電腦,電腦價(jià)格6000-7000元整 |
儀器與電腦連接 | 儀器和電腦之間有5根連接線,可能會(huì)帶來(lái)干擾源(其中AB線、波譜線、視頻線需要每半年更換、否則經(jīng)常出現(xiàn)干擾)尤其是當(dāng)機(jī)器使用了兩、三年后,經(jīng)常發(fā)生由于信號(hào)干擾導(dǎo)致的雜波,影響測(cè)量。連接線太多,導(dǎo)致系統(tǒng)不穩(wěn)定。電源線和數(shù)據(jù)線之間的干擾、數(shù)據(jù)線和數(shù)據(jù)線之間的干擾,在客戶應(yīng)用要求不斷嚴(yán)格,鍍層厚度越來(lái)越薄的趨勢(shì)下,這些不穩(wěn)定的因素和干擾將直接影響測(cè)量重復(fù)性 | 儀器和電腦之間僅需一根USB線連接,簡(jiǎn)潔、方便,杜絕信號(hào)干擾源。(只有一根電源線與一根USB連接線) | 儀器連接線有3根,較少,同樣減少了干擾源 |
標(biāo)準(zhǔn)片庫(kù) | 軟件不具備標(biāo)準(zhǔn)片庫(kù)功能 | 軟件標(biāo)準(zhǔn)配備標(biāo)準(zhǔn)片庫(kù)功能、使用簡(jiǎn)單,節(jié)約時(shí)間 (標(biāo)準(zhǔn)片庫(kù)的好處: 1、方便對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行管理和維護(hù),記錄標(biāo)準(zhǔn)片的信息、校準(zhǔn)日期等 2、存儲(chǔ)常用元素的波譜,方便校準(zhǔn)檔案的建立和維護(hù)) | 軟件內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)片庫(kù)、使用時(shí)較為復(fù)雜 |
測(cè)量能力 | 由于探測(cè)器分辨率差、背景高,X射線信號(hào)光程大,信號(hào)衰減明顯,當(dāng)Au層厚度低于0.05微米(50納米)時(shí),測(cè)量重復(fù)性差,或者無(wú)法給出測(cè)量數(shù)據(jù);由于硬件、軟件的限制,當(dāng)總厚度超過(guò)30um時(shí),測(cè)量重復(fù)性明顯變差,或者無(wú)法得到測(cè)量數(shù)據(jù),提示OOR(八十年代的產(chǎn)品CMI900,技術(shù)缺乏革新,2010年換了個(gè)外殼X-Strata920又繼續(xù)在市場(chǎng)上賣(mài),2017出售給日本日立性能無(wú)任何改善,在未來(lái)幾年有被停產(chǎn)的壓力) | 借助更好的半導(dǎo)體探測(cè)器,優(yōu)化的光學(xué)設(shè)計(jì),可以實(shí)現(xiàn)數(shù)個(gè)納米的鍍層厚度檢測(cè),比如Au/Pd/NiP/CuPCB應(yīng)用,當(dāng)Au厚度僅有5納米,Pd厚度只有20納米時(shí),仍然可以獲得相對(duì)穩(wěn)定的數(shù)據(jù);通過(guò)調(diào)整測(cè)量焦距以及配合不同規(guī)格的一次濾波器,可實(shí)現(xiàn)較厚的厚度測(cè)量,比如Cr/Ni/Cr/ABS應(yīng)用,總厚度可以達(dá)到超過(guò)60um。 | 由于采用氣態(tài)探測(cè)器,在測(cè)量薄金時(shí),重復(fù)性較差。 |
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