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晶圓測試探針臺

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更新時間：2025-03-20 08:20:31瀏覽次數(shù)：27次

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麗景電子科技（廣州）有限公司

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品詳情晶圓測試探針臺型號LJE-4LJE-6LJE-8LJE-12外形580mm長*620mm寬*730mm高640mm長*700mm寬*730mm高660mm長*660mm寬*700mm高1030mm長*820mm寬*730mm高重量約70KG約80KG約85KG約180KG電力需求220VC,50~60Hz樣品臺尺寸4英寸

詳細介紹

產(chǎn)品詳情

晶圓測試探針臺
型號		LJE-4	LJE-6	LJE-8	LJE-12
外形		580mm長* 620mm寬* 730mm高	640mm長* 700mm寬* 730mm高	660mm長* 660mm寬* 700mm高	1030mm長 820mm寬 730mm高
重量		約70KG	約80KG	約85KG	約180KG
電力需求		220VC,50~60Hz
樣品臺	尺寸	4英寸，可360度旋轉	6英寸，可360度旋轉	8英寸，可360度旋轉	12英寸，可360度旋轉
	X-Y行程	4英寸*4英寸	6英寸*6英寸	8英寸*8英寸	12英寸*12英寸
	Z軸行程	6mm（快速切換）/6mm（微調）
	移動精度	10um/1um
	樣品固定方式	真空吸附
	背電極測試功能	有，樣品臺電學獨立懸空
針座平臺		U型平臺，最多可放置6個針座	U型平臺，最多可放置8個針座	U型平臺，最多可放置10個針座	U型平臺，最多可放置12個針座
光學特性	顯微鏡行程	X-Y軸行程2英寸*2英寸，Z軸：50.8mm
	顯微鏡移動精度	1um
	切換鏡頭方式	顯微鏡快速傾仰30度
	放大倍數(shù)	16~100X/20~4000X
	鏡頭規(guī)格	目鏡：10X；物鏡：5X,10X,20X,50X,100X（選配）
	CCD像素	50W（模擬）/200W（數(shù)字）/500W（數(shù)字）
點針規(guī)格	X-Y-Z行程	12mm-12mm-12mm/8mm-8mm-8mm
	機械精度	10微米/2微米/0.7微米/0.1微米
	漏電精度	10pA/100fA （配置屏蔽箱時）
	接口形式	香蕉頭/鱷魚夾/同軸/叁軸接口
應用方向		芯片及LD/LED/PD測試，PCB/封裝器件測試，射頻測試等。
可選附件		顯微鏡傾仰裝置（傾仰30度）	高低溫樣品臺		光強/波長測試選件
		顯微鏡氣動升降裝置	屏蔽箱		射頻測試附件
		激光微加工	轉接頭		有源探頭
		探針卡夾具	防震臺		低電流/電容測試
		顯微鏡暗場/DIC/Normarski 檢測光強/波長測試接口部件	鍍金卡盤		兼容積分球測試選件
		液晶漏電分析套裝	同軸叁軸卡盤		光纖夾具耦合測試選件
		高壓/大電流測試套件	樣品臺快速升降，微調升降裝置選件		PCB/封裝夾具測試選件
		加熱臺	樣品臺旋轉微調選件		特殊定制
特點		1.顯微鏡龍門柱式設計，可使顯微鏡在平面內移動。
		2.顯微鏡可傾仰或氣動升降，便于更換物鏡。
		3.可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復應用。
		4.同軸驅動卡盤，移動精度高。

特點
緊湊的結構			同軸絲杠傳動結構，線性移動
實惠的價格			無回程差設計
兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動			1微米以上電極/PAD測試
高等院校/研究所/公司實驗室使用			LD/LED/PD的光強/波長測試
可用于12英寸以內樣品測試			材料/器件的IV/CV特性測試