FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni 的L輻射。大孔徑準直器的使用大幅提高了信號計數(shù)率，使儀器可以達到極小的重復精度和極低的測量下限。XUV非常適合測量極薄的鍍層和痕量分析。

采用不同的準直器和基本濾片組合，能夠保證每一次的測量都在佳的條件下完成。在測量的同時，可以直觀地查看測量點的影像。儀器測量空間寬大，樣品放置便捷，配合可編程的XYZ軸工作臺，既適合測量平面、大型板材類樣品，也適合形狀復雜的樣品。并且使得連續(xù)測量分析鍍層厚度或元素分析也變得直觀而簡單。儀器配有一個激光定位點作為輔助定位裝置，進一步方便了樣品的快速定位。

基于儀器的通用設計以及真空測量箱所帶來的擴展的測量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用于研究和開發(fā)，也非常適合過程控制和實驗室使用。

XUV® 773 X射線熒光測試儀商品特點

帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管，可選鎢管和鉬管。高工作條件：50 kV, 50W

X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器

準直器：4個，可自動切換，從直徑0.1mm到3mm

基本濾片：6個，可自動切換

可編程XYZ工作臺

攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置?？潭染€經(jīng)過校準，顯示實際測量點大小。

可在真空，空氣或者氦氣的環(huán)境下工作

XUV® 773 X射線熒光測試儀商品應用

測量輕元素

測量超薄鍍層和痕量分析

常規(guī)金屬分析鑒定

非破壞式寶石分析

太陽能光伏產(chǎn)業(yè)

XUV® 773 X射線熒光測試儀實例應用

種類、來源和真實性，是評估寶石價值的本質(zhì)特征；而寶石材質(zhì)的分析結(jié)果則是影響判斷的決定性因素。通常，寶石的主要成份是鋁和硅的氧化物，還會伴隨有鎂和鈉等元素。另外，Cr、Fe、Ga等微量元素也是很重要的。XUV可以分析所有必要元素的光譜圖。

在多個領域的應用中，非常薄的Al鍍層、Si鍍層、氧化鋁鍍層和氧化硅鍍層正在變得原來越重要。在真空環(huán)境中鍍層厚度的測量結(jié)果有顯著的提高。使用XUV來測量這些鍍層，重復精度僅幾個納米。

資料下載

點擊下載XUV® 773 X射線熒光測試儀產(chǎn)品資料

廠家介紹

總部位于德國Sindelfingen的HELMUT FISCHER集團是涂層厚度和材料性能分析測試領域的。主要從事微納米硬度儀、涂鍍層測厚儀、材料分析儀、電導率和鐵素體含量分析儀器的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售?？蛻舯榧翱蒲小⒔虒W和工業(yè)生產(chǎn)各個領域。臻善臻美的追求造就了FISCHER儀器的品質(zhì)；全心全意的服務造就了FISCHER儀器良好的聲譽。FISCHER測試儀器以其的技術(shù)、可靠的質(zhì)量、優(yōu)質(zhì)的服務和專業(yè)的用戶解決方案成為值得依賴的伙伴。FISCHER集團在擁有12個子公司和32個代表處，活躍在的各個角落。多年來,FISCHER測試儀器忠誠服務應用于微電子（印制電路、半導體芯片、框架和連接器等）生產(chǎn)、貴金屬（黃金、珠寶、寶石等）分析、汽車船舶、電鍍加工、油漆防腐、航天航空、太陽能光伏、石油化工、大專院校和科研機構(gòu)等領域。

關鍵詞：過程控制測厚儀連接器石油化工