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微焦點X射線檢測系統(tǒng)(半導(dǎo)體、電子元器件、電池-WJD-100

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更新時間：2023-12-19 14:03:51瀏覽次數(shù)：79次

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瑞安市普奇計量檢測儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

適用于BGA、CSP、Flip、chip的檢測

詳細介紹

適用于BGA、CSP、Flip、chip的檢測，PCB板焊接情況檢測，短路、開路、空洞、冷焊 IC封裝檢測，電容、電阻等元器件，金屬材料、介質(zhì)材料的內(nèi)部缺陷，輕質(zhì)材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)以及組件，電熱管、鋰電池、珍珠、精密器件等

技術(shù)參數(shù)

高頻高壓裝置
高壓逆變頻率：40 KHz
管電壓調(diào)節(jié)范圍：20～100 KV
管電流調(diào)節(jié)范圍：10～500μA
額定管電流：500μA
焦點尺寸：50μ
冷卻方式：風(fēng)冷
系統(tǒng)分辨率大于50LP/cm
放大率240倍
機械檢測平臺
檢測平臺可沿X-Y-Z三軸移動，傾斜40度。
有檢測電氣元器旋轉(zhuǎn)架。
X軸260mm
Y軸260 mm
Z軸200 mm