羅建飛
目錄:深圳市賽儀歐電子有限公司>>儀器儀表>>行業(yè)專用儀器儀表>> 泰克Keithley 集成式參數(shù)化測試系統(tǒng)S500 器件、晶片半導體檢定 產(chǎn)品關鍵詞:泰克s500
當今的模擬和功率半導體技術(包括 GaN 和 SiC)要求進行參數(shù)測試,以便限度提高測量性能、支持廣泛的產(chǎn)品組合以及限度降低測試成本。40 多年來,吉時利已經(jīng)在關鍵應用中解決了這些問題以及其他重要挑戰(zhàn),這些應用包括工藝整合、工藝控制監(jiān)控、生產(chǎn)芯片分類(例如,晶片驗收或已知的良好芯片測試),以及可靠性。
S500 集成式測試系統(tǒng)是高度可配置的、基于儀器的系統(tǒng),適用于器件、晶片或暗盒級半導體檢定。S500 集成式測試系統(tǒng)基于我們經(jīng)過驗證的儀器,提供創(chuàng)新的測量功能和系統(tǒng)靈活性,并且根據(jù)您的需求可進行擴展。的測量能力結(jié)合強大而靈活的自動化檢定套件 (ACS) 軟件,提供市場上其他同類系統(tǒng)無法提供的廣泛應用和功能。
S500 功能
全量程源測量單元 (SMU) 儀器技術規(guī)格,包括 subfemtoamp 測量,確保在幾乎任何設備上都能執(zhí)行廣泛的測量。
適用于內(nèi)存檢定、電荷泵、單脈沖 PIV(電荷陷阱分析)和 PIV 掃描(自加熱回避)的脈沖生成和超快 I-V。
利用支持 Keithley 系統(tǒng)的可擴展 SMU 儀器,提供低或高通道數(shù)系統(tǒng),包括并行測試。
適用于測試功率 MOSFET 和顯示驅(qū)動器等測試器件的高電壓、電流和功率源測量儀器。
開關、探頭卡和布線保證系統(tǒng)適用于您的 DUT。