單晶組件低溫高低溫試驗箱廠家根據試驗方法與行業(yè)標準可分為交變試驗、恒溫試驗，兩種試驗方法都是在高低溫試驗箱的基礎上進行升級拓展，高低溫試驗箱是指可以一次性將需要做的高溫、低溫以及所需做的溫度的時間設定在儀表參數內，試驗箱會按照設定走程序，高低溫試驗箱就是在做一個固定的溫度，使試驗效果更接近自然氣候，模擬出更惡劣的自然氣候，從而使被測樣品的可靠性更高。

高低溫試驗箱內箱容量包括80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L、2000L、3000L、4000L、5000L等

單晶組件低溫高低溫試驗箱廠家加熱體系：測試箱的加熱體系相對制冷體系而言比較簡單，因設備請求升溫速率大所以加熱體系功率也較大且底板設有加熱器。

傳感器體系：高低溫試驗箱的傳感器主要是溫度和濕度傳感器。溫度傳感器使用較多的，是鉑電組和熱電偶，濕度的丈量方法有兩種：干濕球溫度計法和固態(tài)電子式傳感器直接丈量法。因干濕球法丈量精度不高所以現今正逐漸的以固態(tài)傳感器替代干濕球來進行濕度的丈量。

操控體系：操控體系是歸納實驗箱的中心決定升溫速率精度等重要目標。如今操控器大都選用PID操控，但因操控體系基本上歸于軟件的領域且在使用中通常不會出現問題因而本文不對操控體系做太多的介紹。

在做濕熱試驗中，出現實際濕度會達到100%或者實際濕度與目標濕度相差很大，數值低得很多，前者的現象：可能是濕球傳感器上的紗布干燥引起，那就要檢查濕球傳感器的水槽中是否缺水，水槽中的水位是由一水位控制器自動控制的，查水位控制器供水系統(tǒng)是否供水正常，水位控制器工作是否正常。另一種可能就是濕球紗布因使用時間長，或供水水質純凈度的原因，會使紗布變硬，使紗布無法吸收水份而干燥，只要更換或清洗紗布即可排除以上現象。后者的現象主要是加濕系統(tǒng)不工作，查看加濕系統(tǒng)的供水系統(tǒng)，供水系統(tǒng)內是否有一定的水量，控制加濕鍋爐水位的水位控制是否正常，加濕鍋爐內的水位是否正常。如以上一切都正常，那就要檢查電器控制系統(tǒng)，這要請專業(yè)維修人員進行檢修。

GB/T 2423.1—2008電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法

GB/T 2423.2—2008電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法

GB/T 2423.3—2006電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法

GB/T 2423.4—2008電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db：交變濕熱試驗方法

GB/T 2423.9—2001電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cb：設備用恒定濕熱試驗方法

GB/T 2423.22—2002電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N：溫度變化

GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗

GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗

GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗

GB 10586-2006 濕熱試驗箱技術條件

GB 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件

GB/T 5170.1-2008 基本參數檢定方法 總則

GB/T 5170.2-2008 基本參數檢定方法

GB/T 5170.5-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備

環(huán)境試驗設備溫度、濕度校準規(guī)范：JJF1101—2003