優(yōu)測國芯電子科技(深圳)有限公司
參 考 價 | 面議 |
產品型號40A/67A系列等
品 牌其他品牌
廠商性質生產商
所 在 地深圳市
聯(lián)系方式:葉曉明查看聯(lián)系方式
更新時間:2022-07-29 16:27:50瀏覽次數(shù):149次
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適用行業(yè) | 其他 |
美國GGB40G高頻探針(可提供無磁款)
(1) 測試頻率范圍: DC to 40 GHz
(2) 輸入衰減 ≤ 0.8db
(3) 反射損耗≧ 18 db
(4) 腳間距:25 to 2540um可選(腳間距越大 , 損耗越嚴重)
(5) 測試重復性優(yōu)于-80db
(6) 單獨彈簧加載觸點設計
美國GGB40G高頻探針(可提供無磁款)
(1) 測試頻率范圍: DC to 40 GHz
(2) 輸入衰減 ≤ 0.8db
(3) 反射損耗≧ 18 db
(4) 腳間距:25 to 2540um可選(腳間距越大 , 損耗越嚴重)
(5) 測試重復性優(yōu)于-80db
(6) 單獨彈簧加載觸點設計
(7) 材質: BeCu , Tungsten or Nickel tips available
(8) GSG , SG , SG , GSGSG 等可選
(9) 同軸設計
美國GGB40G高頻探針(可提供無磁款)圖片
優(yōu)測國芯電子科技(深圳)有限公司是一家致力于提供半導體和自動化設備綜合解決方案的自主創(chuàng)新型技術企業(yè)。我們集研發(fā)、生產、銷售和服務于一體,不僅擁有*的生產設備、加工工藝及品質檢測體系,也擁有涉及材料、物理、化學、微電子、機械等專業(yè)的技術團隊?,F(xiàn)在主營的產品有:4寸、6寸、8寸、12寸手動探針臺、高壓大功率探針臺、真空高低溫探針臺,半自動探針臺,全自動探針臺等,可以完成I-V/C-V測試,脈沖I-V測試,RF/mmW測試,高壓、大電流測試,MEMS、光電器件等測試。專業(yè)的設計人員也可以按客戶的要求量身定制,如搭配光電流掃描成像或拉曼-瞬態(tài)熒光壽命成像系統(tǒng)、太陽能發(fā)生器、多普勒測試儀、積分球等,在常規(guī)探針臺功能上進行延伸拓展來滿足不同客戶的測試需求。
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