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閱讀:178發(fā)布時間:2022-4-9
1、雙光室,確保所有分析譜線都獲得很高分辨率。 SPECTROLAB S 配備兩套完整的光學(xué)系統(tǒng)。一個光室準(zhǔn)確測量波長從120到240納米(nm);另一個光室,波長范圍從210到800納米(nm)。 兩個光室都采用*的CMOS檢測器,具備恒溫裝置和壓力補償功能。
2、等離子發(fā)生器數(shù)字光源和點火板可靠的新型高能LDMOS等離子發(fā)生器光源,為SPECTROLAB S 輸出高穩(wěn)定的火花放電,頻率高達(dá)1000 Hz,只需要很短的時間即可完成測試,例如分析低合金鋼小于 20 秒。該系統(tǒng)還允許特定應(yīng)用的火花參數(shù)設(shè)置,以優(yōu)化分析性能。
3、氬氣控制系統(tǒng) SPECTROLAB S 采用全新程控流量。軟件根據(jù)分析程序設(shè)置氬氣流量。節(jié)約了氬氣消耗。氬氣閥體直接耦合到火花臺,無需管道連接,避免漏氣。
4、火花臺清理間隔較大程度延長 堅固的陶瓷內(nèi)芯避免積塵粘附。流暢的氣路設(shè)計確保了很少的粉塵殘留(使得清理間隔時間延長了8倍);對于大樣品量輸出的全自動光譜儀系統(tǒng)尤為重要。
5、快速讀出系統(tǒng) 斯派克的GigE創(chuàng)新讀出系統(tǒng)確保海量數(shù)據(jù)的快速處理,從而支持*的儀器性能表現(xiàn)。實現(xiàn)了*的全光譜范圍譜圖記錄。
6、低檢出限。SPECTROLAB S 采用的 CMOS+T技術(shù),在關(guān)鍵元素的檢測限方面,超越光電倍增管技術(shù)的性能。通過配置參比通道,工作曲線可以獲得很好優(yōu)化,可以快速定量分析ppm量級的高純金屬或合金中的痕量元素。
7、元素在低合金鋼中平均檢測限改善2倍,元素在純鋁中的平均檢測限改善5倍。
8、單一標(biāo)樣實現(xiàn)整個系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化, 此項每天可節(jié)省30分鐘工作時間。
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