深圳市世家儀器有限公司
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| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號2380-500-30
品 牌
廠商性質其他
所 在 地
聯(lián)系方式：梅志偉查看聯(lián)系方式
更新時間：2023-04-25 08:08:44瀏覽次數(shù)：78次
聯(lián)系我時，請告知來自 儀表網(wǎng)2380 系列可編程直流電子負載是單輸出獨立負載，包括 200W、250W 和 750W 三個型號。2380 系列具有多種操作模式，高達 25 kHz 的動態(tài)循環(huán)，出色的電壓/電流分辨率和回讀精度，以及多種接口可供選擇，很適合測試工作臺電源。
特點 | 優(yōu)勢 |
| 多種測試模式：恒定電流 (CC)、恒定電壓 (CV)、恒定電阻 (CR) 或恒定功率 (CP) | 讓用戶能夠使用一臺儀器在多種工作模式下測試設備 |
| 0.1 mV/0.01mA 電壓/電流回讀分辨率以及 0.025%/0.05% 電壓/電流回讀精度 | 提供高置信度讀數(shù) |
| 高達 25 kHz 的動態(tài)循環(huán)模式，轉換速率可調 | 讓用戶能夠在高速負載變化下驗證直流電源的瞬態(tài)特性 |
| 最多提供 7 組列表文件的列表模式 | 通過內(nèi)部和外部同步事件，提供快速準確的方法來實施復雜的測試步驟 |
| 多樣化測試模式：電池測試模式、LED 模擬負載測試模式、電壓上升/下降時間測量模式、過電流/功率保護測試模式 | 一臺儀器適用于廣泛的應用 |
| 多種內(nèi)置保護功能：過熱保護 (OTP)、過電壓保護 (OVP)、過電流保護 (OCP)、過功率保護 (OPP)、逆電壓保護 (RVP) | 確保保護 DUT 和 2380 系列電子器件免遭損壞 |
| 內(nèi)置 GPIB、USB、RS232 接口 | 滿足不同的測試接口需要 |
The characteristics of
advantage
Multiple test modes: constant current (CC), constant voltage (CV), constant resistance (CR), or constant power (CP) allow users to test equipment in multiple operating modes using one instrument
0.1 mV/0.01mA voltage/current read back resolution and 0.025%/0.05% voltage/current read back accuracy provide high confidence readings
Dynamic cycle mode up to 25 kHz with adjustable conversion rate allows the user to verify the transient characteristics of the dc power supply under high speed load changes
The list pattern, which provides up to seven groups of list files, provides a quick and accurate way to perform complex test steps by synchronizing events internally and externally
Diversified test modes: battery test mode, LED analog load test mode, voltage rise/fall time measurement mode, over current/power protection test mode one instrument is suitable for a wide range of applications
Multiple built-in protection features: overheat protection (OTP), overvoltage protection (OVP), overcurrent protection (OCP), overpower protection (OPP), and reverse voltage protection (RVP) ensure protection of DUT and 2380 series electronic devices from damage
Built-in GPIB, USB, RS232 interface to meet the needs of different test interface
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