當前位置:武漢普賽斯儀表有限公司>>半導體器件測試儀器儀表>>功率器件測試系統(tǒng)>> PMST-3500V半導體靜態(tài)參數(shù)測試儀+功率器件測試設備
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
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集電極-發(fā)射極最大電壓 | 3500V | 最大電流 | 6000A |
漏電流測試范圍 | 1nA~100mA |
普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備,產(chǎn)品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU)的第三代半導體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案,為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段,實現(xiàn)功率半導體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和分析。如果您對半導體靜態(tài)參數(shù)測試儀+功率器件測試設備感興趣,歡迎隨時聯(lián)系我們!
系統(tǒng)特點
高電壓:支持高達3.5KV高電壓測試(Z大擴展至10kV);
大電流:支持高達6KA大電流測試(多模塊并聯(lián));
高精度:支持uΩ級導通電阻、納安級漏電流測試;
豐富模板:內置豐富的測試模板,方便用戶快速配置測試參數(shù);
配置導出:支持一鍵導出參數(shù)配置及一鍵啟動測試功能;
數(shù)據(jù)預覽及導出:支持圖形界面以及表格展示測試結果,亦可一鍵導出;
模塊化設計:內部采用模塊化結構設計,可自由配置,方便維護;
可拓展:支持拓展溫控功能,方便監(jiān)控系統(tǒng)運行溫度;
可定制開發(fā):可根據(jù)用戶測試場景定制化開發(fā);
測試項目
集電極-發(fā)射極電壓Vces,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces、集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat
集電極截止電流Ices、柵極漏電流Iges
柵極-發(fā)射極電壓Vges、柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th)
輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容
續(xù)流二極管壓降Vf
I-V特性曲線掃描,C-V特性曲線掃描等
武漢普賽斯儀表有限公司,是一家專注于半導體的電性能測試儀表的開發(fā)、生產(chǎn)與銷售的研發(fā)型高新技術企業(yè)。公司以源表為核心產(chǎn)品,專注于第三代半導體測試,提供從材料、晶圓、器件的全系列解決方案。
未來,普賽斯儀表基于國產(chǎn)化高精度數(shù)字源表(SMU)的測試方案,以更優(yōu)的測試能力、更準確的測量結果、更高的可靠性與更全面的測試能力,聯(lián)合更多行業(yè)客戶,共同助力我國第三代半導體行業(yè)高可靠高質量發(fā)展。半導體靜態(tài)參數(shù)測試儀+功率器件測試設備就找普賽斯儀表
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