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半導(dǎo)體參數(shù)分析儀iv/cv曲線測(cè)試一體機(jī)
半導(dǎo)體分立器件電性能iv測(cè)試系統(tǒng)
半導(dǎo)體器件參數(shù)測(cè)試儀iv+cv曲線分析
產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
---|---|---|---|
工作環(huán)境? | 25±10℃ | 測(cè)試范圍? | 0~300V/0~3A |
測(cè)試精度 | 0.03% |
微納器件電性能測(cè)試用數(shù)字源表特點(diǎn):
同時(shí)精確提供和測(cè)量電壓和/或電流;
同步測(cè)量,減少測(cè)試時(shí)間
提供和測(cè)量非常廣的電流和電壓;
電壓可達(dá)300mV-300V,電流達(dá)100nA-1A
支持運(yùn)行用戶腳本程序,無(wú)需電腦控制,提高生產(chǎn)測(cè)試速度;
序列測(cè)試,簡(jiǎn)化操作,降低成本
采用用戶熟悉的圖形界面,不管用戶經(jīng)驗(yàn)是否豐富,使用起來(lái)都非常簡(jiǎn)便;
觸屏操作
與傳統(tǒng)電源比:
電源過(guò)零需要改變線連接方式;
增加需反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)械開(kāi)關(guān),降低了設(shè)備可靠性
電壓電流限制精度有限;
電壓1%,電流10mA
與電源結(jié)合萬(wàn)用表組合比:
萬(wàn)用表電源組合需要編程實(shí)現(xiàn)設(shè)備控制及同步;
復(fù)雜連線、編程開(kāi)發(fā)
電源限壓限流性能差
限壓限流精度低,瞬態(tài)特性也無(wú)法保證
微納器件電性能測(cè)試用數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表,國(guó)產(chǎn)自主研發(fā),性價(jià)比高,測(cè)試范圍更廣,輸出電壓高達(dá)300V,支持USB存儲(chǔ),一鍵導(dǎo)出報(bào)告,符合大環(huán)境下國(guó)內(nèi)技術(shù)自給的需求,可及時(shí)與客戶溝通,為客戶提供高性價(jià)比系統(tǒng)解決方案,及時(shí)指導(dǎo)客戶編程,加速測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā),詳情請(qǐng)聯(lián)系普賽斯儀表銷售專員為您解答
產(chǎn)品特點(diǎn)
5寸800*480觸摸顯示屏,全圖形化操作
內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件,加速用戶完成測(cè)試,如LIV、PIV
源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.1%,分辨率5位半
四象限工作(源和肼),源及測(cè)量范圍:電流100pA~1A,電壓0.3mV~300V
豐富的掃描模式,支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
支持USB存儲(chǔ),一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告
支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
應(yīng)用
分立器件特性測(cè)試:電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件;
能量與效率特性測(cè)試:LED/AMOLED、太陽(yáng)能、電池、DC/DC轉(zhuǎn)換器;
傳感器特性測(cè)試:電阻率、霍爾效應(yīng)等;
有機(jī)材料特性測(cè)試:電子墨水、印刷電子技術(shù)等;
納米材料特性測(cè)試:石墨烯、納米線等;
激光器特性測(cè)試:窄脈沖LIV測(cè)試系統(tǒng);
功率器件:靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng);
電流傳感器:動(dòng)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng);
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