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二、用途及應(yīng)用領(lǐng)域

用于Fe、Al、Mg、Cu、Zn、Sn、Ti、Ni、Co等多種基體的金屬及金屬合金中的組成元素、雜質(zhì)微量元素的定量分析。

光學(xué)系統(tǒng)

帕型-龍格光學(xué)結(jié)構(gòu)，多個高性能的CCD探測器

可實時監(jiān)控的恒溫光室，使光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定

光源

脈沖合成全數(shù)字光源（可編程脈沖全數(shù)字光源），高頻率可達(dá)1000Hz

預(yù)燃技術(shù)（HEPS）

優(yōu)化設(shè)計的控制和功率電路，完善的激發(fā)保護(hù)功能

為不同分析目標(biāo)提供火花、電弧或組合激發(fā)波形

頻率：（100～1000）Hz

放電電流：400 A

主要性能特點

M5000可采集全譜信息，測量近萬條譜線，分析范圍廣，可用的分析靈敏線更多，能夠測定金屬分析行業(yè)需要分析的元素。

與通道式光譜儀相比，M5000免除了選擇通道的煩惱，以更低的成本，獲取對更多元素的分析檢測能力。

M5000可智能選擇合適的靈敏線進(jìn)行分析，科學(xué)地避開相鄰元素干擾、高含量自吸等因素的影響，獲取更準(zhǔn)確的分析結(jié)果。

M5000的硬件設(shè)計支持全譜分析檢測，用戶可隨時在任意現(xiàn)場增加分析基體和元素，無需更改硬件便能擴展分析范圍。

M5000方便實用的擴展性能地滿足企業(yè)未來拓展業(yè)務(wù)范圍的需要，是企業(yè)靈活升級的得力助手。

利用全譜豐富的譜線信息，M5000可運用背景扣除、干擾扣除、漂移校正等算法，從而地監(jiān)控儀器運行狀態(tài)，提高了分析的準(zhǔn)確性和儀器的穩(wěn)定性。

同時智能校正技術(shù)取代了傳統(tǒng)的描跡校正，儀器操作簡單，方便易用，校正效果。