EEM View是日立創(chuàng)新在熒光分光光度計(jì)中加入CMOS相機(jī)的系統(tǒng)，能夠同時(shí)獲得樣品的圖像和光譜信息，突出亮點(diǎn)是可以獲得樣品圖像任意區(qū)域的光譜性能。
南瓜貼紙光譜信息鑒賞：各式各樣的南瓜貼紙中含有大量熒光粉，眾所周知，這種貼紙暴露在黑暗中會(huì)發(fā)出熒光。
如圖所示便是這次鑒賞南瓜頭貼紙的熒光分布成像系統(tǒng)，從圖中可以清晰看到新附件的結(jié)構(gòu)，CMOS相機(jī)位于積分球下方，樣品安放在積分球上方，入射光經(jīng)過積分球漫反射獲得均勻光源，激發(fā)樣品產(chǎn)生熒光。
一般的熒光分光光度計(jì)測得的是樣品區(qū)域表面平均化后的信息，只能獲得一條熒光光譜，而日立熒光分布成像系統(tǒng)能夠同時(shí)獲取樣品不同位置的光譜信息，有利于探究樣品表面的光學(xué)性能分布。
日立高新技術(shù)以‘讓世界充滿活力’為宗旨，致力于新技術(shù)的融合與開發(fā)，這次推出的新品熒光分布成像系統(tǒng)將對(duì)油墨、材料、化工、涂料以及LED等領(lǐng)域帶來新的啟發(fā)，新的探索方法。
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