美國(guó)俄亥俄州克里夫蘭，2012年10月15日訊--吉時(shí)利儀器公司，作為先進(jìn)電性測(cè)試儀器與測(cè)試系統(tǒng)的行業(yè)，通過(guò)推出6482型雙通道皮安表/電壓源不斷擴(kuò)大其在低電平測(cè)量領(lǐng)域的，該皮安表包括兩個(gè)?30V的獨(dú)立電源，具有1fA測(cè)量分辨率。6482型皮安表是吉時(shí)利公司小信號(hào)精密測(cè)試儀表家族的新產(chǎn)品，它在2U高半機(jī)寬度內(nèi)提供兩個(gè)獨(dú)立的皮安表/電壓源通道，允許兩個(gè)通道同時(shí)進(jìn)行6位半測(cè)量。同其他高速、高精度皮安表相比，其通道密度翻了一倍，更容易進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)采集，并降低成本。此外，于同類(lèi)競(jìng)爭(zhēng)的單通道皮安表/電壓源組合相比，它還具有更高的測(cè)量準(zhǔn)確度（在2nA量程為?1%）以及更寬的動(dòng)態(tài)范圍（1fA～20mA）。在4位半分辨率使用時(shí)，每通道讀取速度高達(dá)900讀數(shù)/秒。
寬動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍
6482型雙通道皮安表/電壓源提供2nA～20mA低電流測(cè)量量程。對(duì)于要求在多點(diǎn)同時(shí)進(jìn)行低電流測(cè)量的應(yīng)用，更寬測(cè)量范圍能力將確保儀器的高靈敏度和高分辨率。
高精度暗電流測(cè)量
6482型雙通道皮安表/電壓源的2nA電流測(cè)量量程，非常適合測(cè)量本底電流以及其他微弱電流，分辨率高達(dá)1fA。一旦本底電流確定，該儀器的REL函數(shù)可以自動(dòng)減去本底電流作為補(bǔ)償，因此在光功率測(cè)量應(yīng)用時(shí)，其測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確。用于光電二極管或其他光敏元件暗電流測(cè)量時(shí)，6482型雙通道皮安表的前面板顯示屏可以關(guān)閉，以避免外來(lái)光線干擾，影響獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。
比率測(cè)量或σ測(cè)量
6482型雙通道皮安表/電壓源可以在兩個(gè)完全隔離的通道之間提供比例測(cè)量或σ測(cè)量。通過(guò)前面板或GPIB接口使用這些功能。
接口選配
在構(gòu)建由多個(gè)儀器組成的、需要嚴(yán)格耦合的源測(cè)量單元的測(cè)試系統(tǒng)時(shí)，為了加快并簡(jiǎn)化系統(tǒng)集成和控制，6482型雙通道皮安表/電壓源提供了TriggerLink特性以及標(biāo)準(zhǔn)GPIB與RS-232接口。
TriggerLink特性在單一連接器內(nèi)融合了6個(gè)獨(dú)立的軟件可選觸發(fā)線路，實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)中所有儀器的簡(jiǎn)單而直接的控制。如果測(cè)試涉及掃描，那么這個(gè)特性對(duì)于縮短整個(gè)測(cè)量時(shí)間非常有益。為了更容易將測(cè)量結(jié)果從6482型雙通道皮安表/電壓源傳輸至其他儀器，0-10V模擬輸出可以使數(shù)據(jù)傳輸至數(shù)字多用表（DMM）、數(shù)據(jù)采集板、示波器、帶狀圖記錄儀以及其他設(shè)備變得更加簡(jiǎn)單。
可編程限度和濾波器
對(duì)于6482型雙通道皮安表/電壓源的電流和電壓限制，可以進(jìn)行編程，以確保關(guān)鍵點(diǎn)（如測(cè)試開(kāi)始）的器件保護(hù)。它提供的均值與中值濾波器，可以存儲(chǔ)在每個(gè)通道獨(dú)立的3000點(diǎn)緩存中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。
可調(diào)整噪聲保護(hù)選配
對(duì)于需要高測(cè)量靈敏度的應(yīng)用，6482型雙通道皮安表/電壓源擁有后面板三軸同軸輸入端口，可以實(shí)現(xiàn)三軸同軸電纜連接，實(shí)現(xiàn)電子噪聲小化。對(duì)于不太嚴(yán)格的應(yīng)用，通過(guò)其配置的三軸同軸-BNC適配器，可以使用成本較低的BNC電纜。
應(yīng)用范圍廣泛
6482型雙通道皮安表/電壓源適合與電子材料及器件特性分析有關(guān)的各種應(yīng)用，包括實(shí)驗(yàn)室、研究與開(kāi)發(fā)以及工廠的低電流操作。應(yīng)用領(lǐng)域包括：
•元器件制程測(cè)試
•雙二極管測(cè)試
•半導(dǎo)體元件測(cè)試
•多管腳元件測(cè)試
•暗電流測(cè)試
•離子束監(jiān)測(cè)
•電子顯微鏡
?。ū疚霓D(zhuǎn)自電子工程世界：http://.cn/Test_and_measurement/2012/1015/article_6090.html）
