溫度沖擊試驗(yàn)槽有三個(gè)試驗(yàn)空間，分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū)，也稱(chēng)待測(cè)品不動(dòng)式溫度沖擊試驗(yàn)箱，試樣放在測(cè)試箱內(nèi)進(jìn)行高低溫沖擊試驗(yàn)，模擬產(chǎn)品經(jīng)過(guò)溫度的急劇變化造成的物理變化。用于檢測(cè)根據(jù)元器件、部件及設(shè)備疲勞損傷引起的失效。產(chǎn)品性能符合MIL、IEC、GB、JIS、JEDEC等各種和企業(yè)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，是應(yīng)力篩選試驗(yàn)和環(huán)境適應(yīng)性驗(yàn)證的*手段。
性能參數(shù)參考如下：
1.低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠家還免費(fèi)配高溫至150度）
2.溫度偏差：±2℃
3.溫度波動(dòng)度：±0.5℃。 
4.溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min。 
5.溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
6.溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)。   
7.高溫室儲(chǔ)溫的升溫時(shí)間：30min (+25℃～+200℃)。 
8.低溫室儲(chǔ)溫的降溫時(shí)間：65min (+25℃～-75℃)。
特點(diǎn)
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼,抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長(zhǎng)；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料,確保將熱量散失減到*?。?br />表面噴塑處理,保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條,確保了設(shè)備大門(mén)的高密封性；
多種可選功能（測(cè)試孔、記錄儀、凈水系統(tǒng)等）保證了用戶多種功能和測(cè)試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明,可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑,確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；
溫度沖擊試驗(yàn)槽設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)