地物光譜儀可以實時測量原始數(shù)據(jù)、反射、透射輻射和輻照波譜曲線。所有儀器均采用固定全息光柵和全線陣列光學(xué)探測器。這帶來了高靈敏度和高分辨率的特點，避免了內(nèi)置光纖分光的可能性。窄縫和運動光柵或棱鏡。該儀器可以在100毫秒內(nèi)實現(xiàn)全光譜范圍數(shù)據(jù)采集，達(dá)到10次/秒的采集率。專業(yè)的DARWinSP數(shù)據(jù)采集軟件更好地發(fā)揮了儀器性能，便于數(shù)據(jù)的后續(xù)處理。也可以獲得LABVIEW驅(qū)動器。該儀器具有性價比高、測量快、操作準(zhǔn)確、操作簡單、攜帶方便等特點。除了反射率和透射率測量外，還可以用于輻射度學(xué)、光度學(xué)和CIE色度學(xué)測量。

 

地物光譜儀是一種常用的光譜儀類型，用戶在操作地物光譜儀時需要掌握一定的注意事項，才能更好地使用地物光譜儀。

 

1.確定地物光譜儀實用工作曲線。

 

根據(jù)工廠冶煉情況，合金元素的含量范圍不同，為了保證地面光譜儀的分析精度，工作曲線必須由不同的鋼標(biāo)準(zhǔn)鋼制成。工作曲線標(biāo)準(zhǔn)鋼的數(shù)量應(yīng)滿足分析合金的需要。

 

由于分析樣品從爐中快速取樣，與標(biāo)準(zhǔn)樣品的組織結(jié)構(gòu)和冶金簡歷不一致，可采用控制樣品法消除可能產(chǎn)生的高或低系統(tǒng)誤差。一般來說，不同的組織結(jié)構(gòu)不會改變工作曲線的斜率，通常只是平行移動。因此，校正曲線的上下平移可以減少系統(tǒng)誤差。

 

2.選擇控制樣品。

 

大多數(shù)光譜分析采用控制樣本法，這將遇到一系列問題，如控制標(biāo)準(zhǔn)鋼的來源、化學(xué)成分的確定和使用。特別注意一些新的光譜分析單位。

 

3.分析樣品操作。

 

切割后分析樣品。磨削表面氧化層。用研磨機磨削樣品時，樣品和標(biāo)準(zhǔn)鋼應(yīng)同時操作，并努力保持一致。如果用力過大，表面很容易氧化。磨削要求一致，不得有交叉線。樣品磨削后不宜放置過長，否則會導(dǎo)致試驗材料表面氧化，影響地面光譜儀的分析結(jié)果。一般來說，A12O3中軟、粒度為360的砂輪磨削樣品也可以用砂紙或砂輪磨削。