高速抽樣處理

因離子遷移現(xiàn)象導(dǎo)致的電阻值變化如以下情況：

高速抽樣處理的情況：

抽樣處理慢的情況：

高速與普通處理，檢測(cè)結(jié)果有很大偏差：

全部通道同時(shí)抽樣處理：

多個(gè)通道同時(shí)發(fā)生離子遷移現(xiàn)象的情況如下：

單一AD掃描的話，與通道數(shù)成反比例，發(fā)生通道數(shù)越多越不準(zhǔn)確。

每個(gè)通道都分別配有AD，可以同時(shí)監(jiān)測(cè)所有通道。

J-RAS的模擬電路能夠防止枝晶燒損

●設(shè)備配有電流限制電路，即便枝晶短路，也不會(huì)給樣品輸入超范圍的電力。

●高速16msec的抽樣處理，及時(shí)檢出電阻值低下，把模擬電路的偏壓輸出功率及時(shí)停止。（根據(jù)判定條件設(shè)定）

高速、多通道同時(shí)抽樣，J-RAS能夠大量數(shù)據(jù)并行處理。

簡(jiǎn)而言之，J-RAS設(shè)備的高速、多通道并行處理，能夠更可靠的檢測(cè)出遷移現(xiàn)象。