上海伯東 inTEST - Temptronic 高低溫循環(huán)測試機閃存溫度測試應(yīng)用
閃存(Flash Memory)，是非揮發(fā)性內(nèi)存的一種，不需電力來維持數(shù)據(jù)的儲存，可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種，前者用于儲存程序代碼，后者用于儲存數(shù)據(jù)。閃存應(yīng)用范圍涵蓋汽車電子、因特網(wǎng)、存儲器、DSL 電纜調(diào)制解調(diào)器、數(shù)字電視、照相手機、藍芽、 GPS、工業(yè)電子…等等。

閃存溫度測試原因
為確保閃存可在溫度環(huán)境(例如: 油氣探勘、重工業(yè)以及航空領(lǐng)域)可正常實現(xiàn)穩(wěn)健的閃存讀／寫操作功能，因此在出廠前需要進行溫度測試，inTEST - Temptronic ThermoStream 超高速高低溫循環(huán)測試機憑借可測試溫度 -100 ℃ 至 +300 ℃，每秒可快速升溫或降溫 18°C，溫度精度 +-1.0℃等優(yōu)勢廣泛應(yīng)用于閃存制造行業(yè)。上海伯東作為 inTEST 中國地區(qū)總代理，全權(quán)負責(zé)其新品銷售和售后維修服務(wù)
閃存溫度測試方法:
通過與愛德萬 (Advantest ) 內(nèi)存 IC 測試系統(tǒng)搭配之下，客戶可直接在溫度下測試閃存的運作特性。根據(jù)客戶實際要求，上海伯東*選用 inTEST ATS-545-M 高低溫循環(huán)測試機，并提供兩種溫度操作模式: Air mode 及 DUT mode

閃存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式來進行高低溫循環(huán)測式，將閃存與 inTEST ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互連接，如此即可精確掌控受測物達到機臺所設(shè)定之溫度。閃存高低溫測試方法同樣適合內(nèi)嵌式記憶體eMMC 溫度測試。inTEST-Temptronic thermostream 高低溫測試機可與愛德萬 advantest，泰瑞達 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程機聯(lián)用，進行芯片高低溫循環(huán)測試。更詳細的高低溫測試操作方法

inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 創(chuàng)立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收購，成為在美國設(shè)立的超高速溫度環(huán)境測試機的家制造商。而 Thermonics 創(chuàng)立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收購，使 inTEST 更強化高低溫循環(huán)測試以及溫度沖擊測試領(lǐng)域的實力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用嶄新的研發(fā)技術(shù)發(fā)展出*的溫度環(huán)境測試機，將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速溫度環(huán)境測試系列產(chǎn)品。上海伯東作為 inTEST 中國總代理，全權(quán)負責(zé)  inTEST 新品銷售和售后維修服務(wù)。
 

上海伯東主營真空品牌:德國 Pfeiffer 真空設(shè)備;美國 Brooks Polycold 冷凍機;美國 KRI 考夫曼離子源;美國 HVA 真空閘閥:美國 inTEST(Temptronic)高低溫循環(huán)試驗機;日本 NS 離子蝕刻機等。

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