韓國先鋒XRF-2000鍍層測(cè)厚儀(*)
檢測(cè)電子電鍍,五金電鍍,化學(xué)鍍層厚度
主要檢測(cè):鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
韓國XRF2000鍍層測(cè)厚儀
全自動(dòng)臺(tái)面
自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品)
測(cè)量樣品高度不超過3cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測(cè)試范圍:0.03-35um
可測(cè)試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
(單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等)
(雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等)
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳,再鍍金等)
合金鍍層:如鐵上鍍錫銅等
測(cè)量時(shí)間:10-30秒
精度控制:
*層:±5%以內(nèi)
第二層:±8%以內(nèi)
第三層:±12%以內(nèi)
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀共分三種型號(hào)
不同型號(hào)各種功能一樣
機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀型號(hào)介紹
XRF-2000鍍層測(cè)厚儀H型:測(cè)量樣品高度不超過10cm
XRF-2000電鍍測(cè)厚儀L型:測(cè)量樣品高度不超過3cm
XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測(cè)量樣品高度不超3cm(開放式設(shè)計(jì),可檢測(cè)大型樣品
XRF2000鍍層測(cè)厚儀,提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能*,而且價(jià)錢*
同比其他牌子相同配置的機(jī)器,XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整。超大/開放式的樣品臺(tái),
可測(cè)量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的*。可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度等。
可測(cè)元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U) 原子序 22 – 92
準(zhǔn)直器:固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動(dòng)種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統(tǒng):DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器,惠普彩色打印機(jī)
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統(tǒng)計(jì)功能
韓國Micor Pioneer XRF-2000 X射線測(cè)厚儀結(jié)構(gòu)功能
儀器功能 : 測(cè)量電鍍層厚度
系統(tǒng)結(jié)構(gòu) :
主機(jī)箱,專用分析電腦,彩色液晶顯示屏,彩色打印機(jī)
主機(jī)尺寸
610 x 670 x 600 mm(訂制加高型主機(jī)箱高度超過600mm)
主機(jī)箱重量 : 約75 公斤
配件重量 : 約 35 公斤
樣品臺(tái)承重:5KG
以滑鼠移動(dòng)方式,驅(qū)動(dòng) XYZ 三軸移動(dòng),步進(jìn)馬達(dá)
XYZ 樣片臺(tái)移動(dòng)尺寸
200 x 150 x 100 mm
準(zhǔn)直器一個(gè)可選0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.05*0.4mm
軟件包括 視察軟件,
系統(tǒng)軟件包括,測(cè)量,統(tǒng)計(jì)
系統(tǒng)功能
可測(cè)單層,雙層或多層或合金層電鍍厚度
標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格
自動(dòng)雷射對(duì)焦,XYZ全自動(dòng)XYZ樣片臺(tái),自動(dòng)調(diào)整檔案功能,電鍍藥液測(cè)量.元素配對(duì).
主機(jī)箱:
輸入電壓力:AC220V± 10% 50/60HZ
溝通方法:RS-232C
溫度控制:前置放大及機(jī)箱溫度控制
對(duì)焦:雷射對(duì)焦
安全裝置:如測(cè)量中機(jī)箱門打開,X射線0.5秒內(nèi)自動(dòng)關(guān)閉
表面泄漏:少于1usv
多通道分析
通道數(shù)量:1024ch
脈沖處理:微電腦高速處理器
X射線源
X射線管:油冷
高壓:0-50KV(程控)
管電流0-1mA(程控)
目標(biāo)杷:W靶
校正及應(yīng)用:單鍍層,雙鍍層,合金鍍層,標(biāo)準(zhǔn)樣品再校正
2D,3D隨機(jī)位置測(cè)量
2D:均距表面測(cè)量
3D:表面排列處理測(cè)量
隨機(jī)位置:任意設(shè)定測(cè)量點(diǎn)
檢測(cè)器:正比計(jì)數(shù)器
檢測(cè)器濾片:CO或Ni(選項(xiàng))
X-Y-Z三軸樣品臺(tái)
操作模式:高速精密馬達(dá),可控制加減速度
2D,3D隨機(jī)定位,鼠標(biāo)定定,樣品臺(tái)視窗控制,程控定位
機(jī)箱門打開關(guān)閉Y軸自動(dòng)感應(yīng)
統(tǒng)計(jì)功能:打印報(bào)告可顯示zui大/zui小值,位移,平均值,標(biāo)準(zhǔn)差,測(cè)量位置圖片顯示及Bar圖表等
多種測(cè)量報(bào)表模式可選(可插入公司標(biāo)志及客戶名稱)
定性分析:
原素頻譜顯示,ROI距離定性分析,標(biāo)簽圖案顯示
指標(biāo)顯示:顯示原素及測(cè)量數(shù)值,顯示ROI彩色圖
放大功能:局部放大,平均功能:柔和顯法頻譜
視窗大小:無級(jí)別式視窗大小.
韓國先鋒XRF2000 X射線測(cè)厚儀
檢測(cè)電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
儀器功能
全自動(dòng)臺(tái)面
自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品)
測(cè)量樣品高度不超過4cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測(cè)試范圍:0.04-35um
可測(cè)試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測(cè)量時(shí)間:10-30秒
精度控制:
*層:±5%以內(nèi)
第二層:±8%以內(nèi)
第三層:±12%以內(nèi)
檢測(cè)電子電鍍,五金電鍍,化學(xué)鍍層厚度
主要檢測(cè):鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等
x射線鍍層測(cè)厚儀,X-RAY膜厚儀,X熒光鍍層測(cè)厚儀