鼎極天質(zhì)量保證 膜厚測試儀?X射線衍射裝置
具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽（NaCl）時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉（Na）和氯（Cl）構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由（NaCl）的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置（XRD為好,但當(dāng)測定含多種化合物的物質(zhì)時只用衍射裝置（XRD）就很難判定,必須先用螢光X射線裝置（XRF）得到元素信息后才能進(jìn)行定性。
主要特點(diǎn)
★ 自動對焦功能 。配備激光自動對焦功能，能夠準(zhǔn)確對焦，提高測量效率。
★ 具有焦點(diǎn)距離切換功能，適用于有凹凸的機(jī)械部件與電路板的底部進(jìn)行測量
★ 采用檢量線法和FP法，兩個準(zhǔn)直器可自動切換，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成的損壞。
★ 選用Mo靶材X射線管，測量貴金屬更靈敏。
★ 支持多種語言的軟件系統(tǒng)。簡體中文、繁體中文、英語、日語、韓語
★ 搭載樣品尺寸的兼容性可適用于各種樣品，能夠通過一臺儀器測量，從電子部件、電路板到機(jī)械部件等高度較高的樣品，從較厚的樣品（機(jī)械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等
★ 鹵素?zé)粽彰?/p>
★即時生成測量報(bào)告的便捷性 。運(yùn)用搭載的Microsoft Word? Excel? 可以簡單輕松得到制作報(bào)告
★ 多種修正功能。基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正
★ 搭載了電動X－Y移動平臺
鼎極天質(zhì)量保證 膜厚測試儀?X技術(shù)參數(shù)
可測元素：Ti～U
X射線管：管電壓45KV，管電流1mA
檢測器：比例計(jì)數(shù)管
樣品觀察：CCD攝像機(jī)
對焦方式：激光自動對焦
測定軟件：薄膜FP法、檢量線法
準(zhǔn)直器：2個（0.1mm，0.025*0.3mm）
安全機(jī)能：測量室門自鎖功能
Z軸防沖撞功能
儀器自診斷功能
SII的產(chǎn)品是利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息（組成和鍍層厚度）的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息（構(gòu)造）。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)照片。另外也用于機(jī)場的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類。
簡單地說螢光X射線裝置（XRF）和X射線衍射裝置（XRD）有何不同,螢光X射線裝置（XRF）能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置（XRD）能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。
鼎極天質(zhì)量保證 膜厚測試儀?X原理
采用磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個數(shù)量級）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。
