2600數(shù)字源表系列給電子元器件和半導(dǎo)體制造商提供了一個(gè)靈活的、高效的、性?xún)r(jià)比的方案，適合于精確DC、脈沖和低頻AC的源-測(cè)量測(cè)試?；趜ui初2400系列數(shù)字源表的緊湊集成源-測(cè)量技術(shù)，2600系列儀器在I-V測(cè)試應(yīng)用中 能夠提供相當(dāng)于同類(lèi)產(chǎn)品的二到四倍的測(cè)試速度。它們還具備更高的源測(cè)量通道密度并且比同類(lèi)產(chǎn)品顯著地降低了使用成本。的模數(shù)轉(zhuǎn)換器在小于100μs的時(shí)間內(nèi) 可同時(shí)提供I和V測(cè)量值 （10,000 讀數(shù)/s），源-測(cè)量掃描速度為200μs每點(diǎn) （5,500 點(diǎn)/s）。這種高速的源-測(cè)量能力加上*的自動(dòng)化特性及軟件工具使得2600系列數(shù)字源表系列成為廣泛用于多種器件I-V測(cè)試的理想方案。

無(wú)需主機(jī)的靈活系統(tǒng)
2600 數(shù)字源表結(jié)合了創(chuàng)新的技術(shù)從而可以經(jīng)濟(jì)的建立多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)而無(wú)需犧牲產(chǎn)能。TSP-Link是高速的系統(tǒng)擴(kuò)展連接，可讓您以主/從配置連接多臺(tái)2600系列儀器。

一旦連接配置完成，系統(tǒng)內(nèi)所有的2600系列儀器都可以在主機(jī)的控制下進(jìn)行編程和操作，而且不需要機(jī)架/主機(jī)，TSP-Link給您實(shí)質(zhì)上的無(wú)限靈活，從而調(diào)節(jié)系統(tǒng)通道的數(shù)量來(lái)匹配變化的應(yīng)用需求，同時(shí)確保無(wú)縫集成。

TSP-Link使您可以方便的改變系統(tǒng)的通道數(shù)來(lái)滿(mǎn)足應(yīng)用。

串并聯(lián)量程布局對(duì)比

2601和2602的I-V能力

2611和2612的I-V能力

圖形化的儀器設(shè)置。LabTracer2.0支持多達(dá)八個(gè)2600或2400系列數(shù)字源表通道。2400和2410數(shù)字源表還支持電壓擴(kuò)展能力。LabTracer2.0的儀器設(shè)置窗口的下拉菜單中可以配置數(shù)字源表的任意通道，來(lái)進(jìn)行定點(diǎn)或掃描操作。配置完成后，只需一次按鍵即可執(zhí)行測(cè)試。

從研發(fā)到函數(shù)測(cè)試的I-V測(cè)試應(yīng)用

2600系列數(shù)字源表為研發(fā)測(cè)試提供易于使用、功能強(qiáng)大的解決方案。同時(shí)滿(mǎn)足批量產(chǎn)品測(cè)試所需的速度和可靠性。

功能強(qiáng)大且易于使用，適合研發(fā)應(yīng)用

在研發(fā)和器件特性分析環(huán)境中，無(wú)論是用于交互式還是自動(dòng)化測(cè)試，2600系列都具備高度的測(cè)試通用性?？擅赓M(fèi)下載的LabTracer2.0軟件使用戶(hù)能夠迅速、方便的配置并控制多達(dá)八個(gè)2600或2400系列數(shù)字源表通道，可用于曲線(xiàn)追蹤或器件特性分析。其簡(jiǎn)明的圖形化用戶(hù)界面可以從數(shù)字源表上方便的實(shí)現(xiàn)建立、控制、數(shù)據(jù)采集和DUT數(shù)據(jù)繪圖。將LabTracer和數(shù)字源表配合使用，是特別適合實(shí)驗(yàn)室用戶(hù)的功能強(qiáng)大、易用且經(jīng)濟(jì)的機(jī)架式方案。

測(cè)試完成后，數(shù)據(jù)顯示在電子表格面板和圖形面板中?？梢酝ㄟ^(guò)對(duì)結(jié)果應(yīng)用公式來(lái)對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。對(duì)于更詳細(xì)的分析，只需簡(jiǎn)單的剪切和粘貼，數(shù)據(jù)即可被導(dǎo)出到Microsoft® Excel中。

大幅提高產(chǎn)品測(cè)試產(chǎn)能

2600系列儀器幫助元器件制造商大幅度提高測(cè)試產(chǎn)能，同時(shí)提供能處理如今器件的測(cè)試方案。如今的器件通常比早期的器件有更高的管腳數(shù)和模擬電路。過(guò)去，制造商迫于缺乏為多通道源-測(cè)量應(yīng)用而優(yōu)化的測(cè)試方案，不得不在笨重、昂貴的基于主機(jī)的系統(tǒng)、由PC控制的緩慢的基于儀器的系統(tǒng)和需要復(fù)雜的開(kāi)發(fā)才能實(shí)現(xiàn)的快速的基于儀器的系統(tǒng)之間做出選擇。2600系列提供：

 •     目前基于SMU系統(tǒng)中zui高的密度，以應(yīng)對(duì)不斷增長(zhǎng)的管腳數(shù)。

 •     業(yè)界zui快的吞吐速度，幫助減少測(cè)試成本。板上處理器的速度和TSP測(cè)試腳本再加上由TSP-Link總線(xiàn)提供的觸發(fā)同步，使高速并行測(cè)試的應(yīng)用成為現(xiàn)實(shí)。

 •     更低的開(kāi)銷(xiāo)。通過(guò)消除對(duì)主機(jī)/機(jī)架的需求，允許測(cè)試工程師靈活的配置系統(tǒng)，從而獲得顯著低于其它方案的每通道成本。

測(cè)試腳本編輯軟件

Test Script Builder是一款免費(fèi)軟件，隨2600系列數(shù)字源表提供，幫助用戶(hù)建立、修改、調(diào)試和存儲(chǔ)TSP測(cè)試腳本。它提供一個(gè)項(xiàng)目/文件管理器窗口來(lái)存儲(chǔ)和組織測(cè)試腳本，文本敏感的程序編輯器（類(lèi)似Visual Baisic）用于創(chuàng)建和修改測(cè)試TSP代碼，并且即時(shí)控制窗口能發(fā)送GPIB指令并從儀器接收數(shù)據(jù)。即時(shí)窗口可以查看已有的測(cè)試腳本，且便于調(diào)試。

典型應(yīng)用

 • 對(duì)多種器件進(jìn)行I-V函數(shù)測(cè)試和特性分析，包括：
     - 分立的和無(wú)源的元器件
     - 雙引腳 - 電阻、盤(pán)驅(qū)動(dòng)器頭、金屬氧化物變阻器（MOV）、二極管、齊納二極管、傳感器、電容器、熱敏電阻
     - 三引腳 - 雙極型小信號(hào)晶體管（BJT）場(chǎng)效應(yīng)晶體管（FET）等
     - 并行測(cè)試 – 雙引腳、三引腳元器件陣列
     - 簡(jiǎn)單集成電路 – 光學(xué)、驅(qū)動(dòng)器、開(kāi)關(guān)、傳感器
 • 集成的器件－小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI）.
     - 模擬IC
     - 射頻集成電路（RFIC）
     - 應(yīng)用定制的集成電路
     - 系統(tǒng)級(jí)芯片（SOC）器件
 • 光電器件如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管、高亮度LED（HBLED）、垂直共振腔面射型激光器（VCSEL）、顯示器
 • 上述器件的研發(fā)和特性分析