簡(jiǎn)介：
工藝過程成像探頭系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)顆粒的形貌和尺寸大小做實(shí)時(shí)的定性定量的準(zhǔn)確測(cè)量，進(jìn)而加深對(duì)過程的了解和實(shí)現(xiàn)過程的優(yōu)化控制及放大。除了固體結(jié)晶以外，對(duì)其他非固體的領(lǐng)域，例如氣泡，泡沫，乳狀液，液滴，聚合物，流場(chǎng)等刻畫也具有極其廣泛的應(yīng)用前景。它適用于生產(chǎn)中對(duì)過程的研究，產(chǎn)品開發(fā)及其改進(jìn)。特別適用于監(jiān)測(cè)，優(yōu)化和控制高顆粒濃度過程及非透明顆粒的生產(chǎn)過程。
技術(shù)指標(biāo)：
- 測(cè)量范圍：數(shù)微米到數(shù)毫米(與鏡頭放大倍數(shù)，相機(jī)等相關(guān))
- 測(cè)量方式：在線測(cè)量晶體形態(tài)，平均尺寸，顆粒大小分布
- 測(cè)量濃度：可高達(dá)50%固體顆粒濃度(與顆粒形狀相關(guān))
- 工作溫度：-10℃ - 120℃
性能特征：
- 工藝過程成像探頭系統(tǒng)特殊設(shè)計(jì)的探頭(相機(jī)/鏡頭/光源)可廣泛地適用于許多困難物系（尤其是非透明顆粒物系及高固體濃度）。 探頭具有耐腐蝕性，能夠?qū)h值1~12范圍內(nèi)的樣品進(jìn)行測(cè)量。
- 由于特殊的光源設(shè)計(jì),可有效地防止顆粒沉積/粘結(jié)于探頭上。
- 根據(jù)不同物系及客戶要求,可設(shè)計(jì)不同方案(包括氣體清理系統(tǒng))。
- 強(qiáng)大的圖像處理功能可實(shí)現(xiàn)顆粒多尺度分割, 計(jì)算顆粒形狀參數(shù) (主元素分析和傅立葉變換)，聚類分析和定量產(chǎn)品/過程控制。
