leeb251涂層測(cè)厚儀能快速、無損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量。
leeb251涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):
測(cè)頭類型 | Leeb251 | |
測(cè)頭類型 | N1 | |
工作原理 | 電渦流 | |
測(cè)量范圍 | 0~1250μm | |
低限分辨率 | 1μm | |
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±(3%H+1) |
二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[(1~3%)H+1] | |
測(cè)試條件 | zui小曲率半徑mm | 凸1.5、凹9 |
zui小面積直徑mm | Φ7 | |
基本臨界厚度mm | 0.5 | |
工作環(huán)境 | 溫度 | 0~40℃ |
濕度 | 20%~90% | |
電源 | AAA型堿性電池1.5V四節(jié) | |
外形尺寸 | 150×55.5×23mm(主機(jī)) | |
重量 | 120g | |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、AAA型堿性電池 |
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