4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)

容易使用的4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)的器件直流參數(shù)測(cè)試、實(shí)時(shí)繪圖與分析，具有高精度和亞f*的分辨率。它提供了的系統(tǒng)集成能力，包括完整的嵌入式PC機(jī)，Windows操作系統(tǒng)與大容量存儲(chǔ)器。其自動(dòng)記錄、點(diǎn)擊式接口加速并簡(jiǎn)化了獲取數(shù)據(jù)的過(guò)程，這樣用戶可以更快地開始分析測(cè)試結(jié)果。其它一些特征使得應(yīng)力測(cè)量功能能夠滿足各種可靠性測(cè)試的需求。

可選儀器：

* 4225-PMU超快I-V模塊

* 4220-PGU脈沖發(fā)生器單元（僅電壓源）

* 4225-RPM遠(yuǎn)程放大器/開關(guān)

* 4200-SMU中等功率源測(cè)量單元

* 用于4200-SCS的4210-SMU高功率源測(cè)量單元

* 用于4200-SMU和4210-SMU的4200-PA遠(yuǎn)程前置放大器選件

* 4210-CVU 1kHz - 10MHz電容電壓測(cè)量單元

* 4200-SCP2雙通道示波器卡

* 4200-SCP2HR 200MS雙通道示波器卡

超快I-V應(yīng)用套件：

* 4225-PMU超快I-V模塊

主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)

• * 直觀的、點(diǎn)擊式Windows操作環(huán)境
• * *的遠(yuǎn)端前置放大器，將SMU的分辨率擴(kuò)展至 0.1fA
• * 用于高級(jí)半導(dǎo)體測(cè)試的新型脈沖與脈沖式I-V功能
• * 集成了示波與脈沖測(cè)量功能的新型示波卡
• * 內(nèi)置PC提供快速的測(cè)試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測(cè)試結(jié)果的大容量存儲(chǔ)
• * *的瀏覽器風(fēng)格的軟件界面，根據(jù)器件的類型來(lái)安排測(cè)試，可以執(zhí)行多項(xiàng)測(cè)試并提供測(cè)試序列與循環(huán)控制功能
• * 內(nèi)置了Stress/Measure，循環(huán)和數(shù)據(jù)分析功能，通過(guò)鼠標(biāo)點(diǎn)擊方式就可進(jìn)行可靠性測(cè)試，包括5個(gè)JEDEC規(guī)范的樣品測(cè)試
• * 支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關(guān)矩陣與Agilent 81110脈沖發(fā)生器等多種外圍設(shè)備
• * 硬件由 Keithley交互式測(cè)試環(huán)境（KITE）來(lái)控制，用戶測(cè)試模塊功能，可用于外接儀表控制與測(cè)試平臺(tái)集成，是KITE功能的擴(kuò)充
• * 包括驅(qū)動(dòng)軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動(dòng)和手動(dòng)探針臺(tái)
• * 支持*的半導(dǎo)體模型參數(shù)提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso

• 半導(dǎo)體器件：
• 片上參數(shù)測(cè)試
• 晶圓級(jí)可靠性
• 封裝器件的特性分析
• 使用Model4200-SCS控制外部LCR表進(jìn)行C-V、I-V特性分析
• 高K柵電荷俘獲
• 易受自加熱效應(yīng)影響的器件和材料的等溫測(cè)試
• 電荷泵方法分析MOSFET器件的界面態(tài)密度
• 電阻式或電容式MEMS驅(qū)動(dòng)特性分析
• 光電器件：
• 半導(dǎo)體激光二極管DC/CW特性分析
• 收發(fā)模塊DC/CW特性分析
• PIN和APD特性分析
• 科技開發(fā)：
• 碳納米管特性分析
• 材料研究
• 電化學(xué)

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