Agilent4287A射頻LCR測(cè)試儀/HP4287A阻抗分析儀,洽談!!
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深圳鑫惠福電子儀器有限公司
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Agilent4287A射頻LCR測(cè)試儀/HP4287A阻抗分析儀·1MHz~3GHz,以100KHz分檔·阻抗測(cè)量范圍寬,從200mΩ到3KΩ·在低測(cè)度信號(hào)電平上具有優(yōu)良的測(cè)量重復(fù)性·基本精度為1%·高速測(cè)量9ms
產(chǎn)品狀態(tài):已停產(chǎn)
Agilent 4287A射頻LCR測(cè)試儀在1MHz~3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測(cè)量,以改進(jìn)生產(chǎn)線(xiàn)上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)
率。與反射測(cè)量技術(shù)不同,采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測(cè)量。
生產(chǎn)率高,質(zhì)量可靠
4287A 適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量非???。此外,在小測(cè)試電流(100μA)處優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生
產(chǎn)率,因?yàn)樗璧娜∑骄^(guò)程非常短。
系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單
測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件接點(diǎn)附近,而不會(huì)使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速
GPIB接口和處理器接口可用來(lái)簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室適用于多頻或陣列芯片測(cè)試。
便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀(guān)察測(cè)量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶(hù)接口使操作過(guò)程更為方便且無(wú)差錯(cuò)。內(nèi)置統(tǒng)計(jì)分析功能可以提供監(jiān)視測(cè)試
質(zhì)量和效率的過(guò)程。可選用的LAN接口有助于統(tǒng)一進(jìn)行生產(chǎn)監(jiān)控。此外,若干APC-7 SMD測(cè)試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7
適配器聯(lián)用,從而無(wú)需制作夾具。
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