電線電纜金屬導(dǎo)體電阻率測試裝置 型號:DP-EWC-2
電線電纜金屬導(dǎo)體電阻率測試裝置 型號:DP-EWC-2產(chǎn)品簡介
本測試裝置是根據(jù)際電工委員會(IEC)468和標(biāo)GB3048.2—94的規(guī)定而研制成功的,是測定電線電纜金屬導(dǎo)體電阻率性能的裝置,其性能全符合GB3048.2—94要求,是集電子、微處理機、自動檢測和新型樣品夾持裝置于體的 化新產(chǎn)品,解決了傳統(tǒng)檢測中由于單臂雙臂電橋而產(chǎn)生的操作繁瑣,平衡費時,人工計算、工作效率低等問題,采用了的精度的電流—電壓降四端子測量法,消除了連接導(dǎo)線電阻和接觸電阻所帶來的誤差,可以精度地測定實心銅鋁及其合金導(dǎo)體材料的體電阻率,質(zhì)量電阻率以及單位長度電阻。
本測試裝置為綜合性測試系統(tǒng),為測試臺結(jié)構(gòu),主要由的樣品夾具,精度數(shù)字電壓表、寬量程穩(wěn)定直流恒定電流源,微處理機系統(tǒng)等部分組成,樣品夾具由殊導(dǎo)電合金加工而成,接觸良好,導(dǎo)電性能好,有快和慢功能,具有定位精度等點,適合用于從φ0.1mm—φ40mm寬范圍導(dǎo)體的調(diào)節(jié)和夾持,精度數(shù)字電壓表靈敏度、測量范圍由0.1μV—2V,精度達(dá)0.05%,用LED 4 1/2位數(shù)字顯示,大功率恒流源電流輸出范圍寬從10μA—15A,恒定電流輸出穩(wěn)定性好,精度達(dá)0.05%,微處理機系統(tǒng)由主機、鍵盤、顯示終端和打印機組成。
本裝置采用的人機對話,屏幕菜單提示,自動行溫度修正,自動計算電阻率和誤差,本裝置具有測試精度、操作方便,屏幕顯示、人機對話、自動行數(shù)據(jù)處理打印等點,適合于各電線電纜廠,合金材料廠、等院校、科研單位對金屬導(dǎo)體材料的研究和檢測之用,可測量導(dǎo)線每米長度電阻、體電阻率和質(zhì)量電阻率。
電線電纜金屬導(dǎo)體電阻率測試裝置 型號:DP-EWC-2儀器主要指標(biāo):
、測量范圍:電阻:6.7×10-9--105Ω
線材直徑:φ0.1mm—φ40mm
二、測量誤差:在φ0.1mm—φ1mm線徑范圍,誤差為±0.15%
在φ0.1mm—φ40mm線徑范圍,誤差為±0.25%
三、設(shè)備
() 測試控制臺:為臺式結(jié)構(gòu),載放儀器電氣箱計算機系統(tǒng)及測試架供試驗測量用,備有抽斗,記錄板等附件。
(二) 測試架:作為每米長度電阻導(dǎo)線的測試架,標(biāo)尺誤差:1000±0.2mm
用夾具:具有慢和快夾緊裝置,電位夾頭具有微調(diào)裝置,可夾緊導(dǎo)線直徑φ0.1mm—φ40mm
(三) 主機
1. 數(shù)字電壓表
量程:2mV、20 mV、200 mV、2V
分辯率:0.1μV、1μV、10μV、100μV
量程誤差:2mV檔:±(0.1%讀數(shù)+6字)
20mV、200mV、2V檔:±(0.1%讀數(shù)+2字)
2. 直流恒定電流源
量程:10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA
誤差:±(0.1%讀數(shù)+2字)
電流調(diào)節(jié):0--100 mA、連續(xù)可調(diào)
3. 電阻顯示
4 1/2位LED數(shù)字顯示0—19999
電阻單位、小數(shù)點過載自動顯示
4. 單片微機及PC接口
(四) 大功率直流恒流源
1. 量程:1A、10A、15A
2. 電流誤差:±(0.1%讀數(shù)+2字)
3. 電流調(diào)節(jié):電流為固定輸出
(五) PC微處理機系統(tǒng)
1. 鍵盤:標(biāo)準(zhǔn)鍵盤
功能:能輸入試驗日期、編號、溫度、導(dǎo)線直徑、每米導(dǎo)線稱重值、測量方法、試樣來源及規(guī)格
2. 數(shù)據(jù)處理功能:由導(dǎo)線直徑計算導(dǎo)線的截面積
由導(dǎo)線重量計算導(dǎo)線的質(zhì)量
輸入試驗溫度計算溫度修正系數(shù)
計算導(dǎo)線的電阻率(20°C)
計算樣品測量次數(shù)的平均電阻值率
3. 顯示:CRT屏幕顯示
采用菜單式提示操作程序,達(dá)到人機對話,顯示測量結(jié)果
4.打印機:由打印機打印出測試結(jié)果及數(shù)據(jù)
電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻測試儀/電纜電阻測試儀 型號:DP-BT-900A
DP-BT-900A型電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測試儀是根據(jù)標(biāo)GB11017-89所規(guī)定的測試方法和指標(biāo)而的,用來測試壓電纜半導(dǎo)電內(nèi)外屏蔽層的電阻率,采用四端子電流—電壓降壓法原理,能夠有效地排除測試中產(chǎn)生的接觸電阻和引線電阻的影響,通過用的測試架能夠?qū)Σ煌睆降碾娎|迅速而準(zhǔn)確地測量其屏蔽層的電阻
儀器由電氣箱和測試架兩大部分組成,測試架具有夾持加壓機構(gòu),能夠良好地夾緊各種不同直徑的屏蔽電纜,具有環(huán)形準(zhǔn)確度達(dá)0.3%的電位電和電流電確保儀器取樣位置精度、使用方便、外形輕巧,適應(yīng)在常溫和恒溫箱中測量。電氣箱具有精度的數(shù)字電壓表,測量范圍10μV—2V。穩(wěn)定性的直流恒定電流源,輸出電流從0.1μA—10mA連續(xù)可調(diào),測量電阻率范圍寬為10-104Ω·m ,測量電阻值,直接數(shù)字顯示:單位、小數(shù)點也都自動顯示,儀器還有性轉(zhuǎn)換和自校功能。
本儀器適合電纜研究,電纜廠,對于壓交聯(lián)電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率的測試是具備的測量手段
指標(biāo):
1. 測量范圍 電阻率 10-5--104Ω·m;電阻10-3--107Ω
2. 測量精度 ±(0.5%讀數(shù)+2字) 20MΩ量程±(3%讀數(shù)+2字)(在0.1mA、2V時)
3. 電壓量程 20 mV、200 mV、2V
4. 測試電流 0.1μA、1μA、10μA、100μA、1mA、10mA
5. 顯 示 3 1/2 位LED數(shù)字顯示0---1999、單位、小數(shù)點、性自動顯示
6. 測試架 電纜導(dǎo)電屏蔽層直徑:10mm—35mm
電纜緣屏蔽層直徑:50mm—140mm
電位電間距:50mm±0.25mm
電流電與電位電距離>25mm
備有13付內(nèi)屏蔽電位電和電流電
7.尺寸 電氣箱:360mm×420mm×120mm
測試架:202mm×162mm×319mm
半導(dǎo)電橡塑材料電阻溫測試架/電阻溫測試架 型號:DP-DB-4/DB-5
測試架是與本公司的DP-DB-4型電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測試儀的配套產(chǎn)品。DP-DB-4儀器是檢測半導(dǎo)電橡塑材料在23°C時的電阻率值,配上本測試架后可以擴展功能,將本測試架放入烘箱,可以檢測該材料在0~180°C溫下,電阻率變化值。
本測試架有以下點:
1、 性能全符合標(biāo)GB3048.3要求,具有標(biāo)準(zhǔn)尺寸的電流電、電壓電,及加壓系統(tǒng),樣品盒緣強度大于1012Ω。
2、 投資少具有標(biāo)準(zhǔn)接口,能與DP-DB-4型電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻儀配套使用,能滿足新老用戶的要求,凡以前已購買了DP-DB-4儀器的用戶不必再買儀器烘箱了,應(yīng)用原有儀器設(shè)備省錢省事。
3、 工作可靠,工作溫度范圍大采用強度緣耐溫材料制成放入烘箱,可以從0~180°C連續(xù)長期工作,為研究分子材料在90~120°C乃至180°C溫條件的電阻率變化,提供了有力保障。
4、 操作簡單,使用方便,壽命長。
附注:DP-DB型電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測試儀于1985年通過全鑒定,是全依照標(biāo)GB3048.3-83的要求行的,在20多年運用中,儀器幾經(jīng)改,全又有200多家電纜廠、粒廠、研究所、大學(xué)購買了本儀器,經(jīng)過漫長歲月的考核使用后,實踐充分證明本儀器,測量精度,性能穩(wěn)定可靠,使用操作方便,是內(nèi)*符合GB3048.3要求的儀器,深受內(nèi)外各交聯(lián)電纜廠,分子材料廠,半導(dǎo)電橡膠廠,校研究所的歡迎,是半導(dǎo)電材料體電阻率性能研究時的儀器設(shè)備
電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測試儀/電阻測試儀 型號:DP-DB-4
DP-DB-4電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測試儀是根據(jù)家標(biāo)準(zhǔn)GB3048.3—94研究成功的測量設(shè)備,主要用于測量電纜用橡膠和塑料半導(dǎo)電材料中間試樣電阻率以及各種導(dǎo)電橡塑產(chǎn)品電阻,若換上殊的四端子測試夾,還可以對金屬導(dǎo)體材料及產(chǎn)品的低、中值電阻行測量
經(jīng)過了十多年的實際運行,全近百家主要電纜廠和半導(dǎo)電屏蔽材料廠均已采用了該儀器,它是目前全*符合家標(biāo)準(zhǔn)GB3048.3-94的測量半導(dǎo)電橡塑材料電阻率的儀器。
儀器為臺式結(jié)構(gòu),主要由電氣箱、測試架兩大部分組成,固定在用工作臺上,電氣箱包括靈敏的直流數(shù)字電壓表和穩(wěn)定的直流恒流源,測量結(jié)果采用LED數(shù)字直接顯示,測量電流輸出也采用LED數(shù)字顯示,從0—100mA范圍內(nèi)可任意調(diào)節(jié),可達(dá)到控制測試功率損耗的規(guī)定,儀器測試架由電、壓力探頭、樣品臺及電動傳動機構(gòu)組成,操作按鍵電鈕,可行半自動測量。
儀器具有測量精度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等點,全符合際和家標(biāo)準(zhǔn)的要求。
儀器適用于電纜廠、導(dǎo)電橡塑材料廠、計算機廠、電子表廠、等院校、科學(xué)研究等,對于導(dǎo)電橡塑材料及產(chǎn)品的電阻性能測試、工藝檢測,是必需的測試設(shè)備。
儀器主要指標(biāo):
、 測量范圍:10-4--103Ω-cm可擴展到105Ω-cm;分辯率10-6Ω-cm
二、 數(shù)字電壓表:
1. 量程0.2mV、2 mV、20 mV、200 mV、2V
2. 測量誤差 0.2mA檔±(0.5%讀數(shù)+8字);2mV—2V擋±(0.5%讀數(shù)+2字)
3. 顯示3 1/2 位數(shù)字顯示0—1999具有性和過載自動顯示,小數(shù)點、單位自動顯示。
三、 恒流源:
1. 電流輸出:直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào),由交流電源供給,數(shù)字顯示
2. 量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
3. 電流誤差:±(0.5%讀數(shù)+2字)
四、 測量電:
1. 電流電:寬度50mm,與試樣的接觸寬度5mm,兩個電流電間的距離110mm
2. 電位電:寬度50mm,接觸半徑<>,兩個電位電間的距離20mm±2%
五、電源:220±10% 50HZ或60HZ 功率消耗<50W
六、外形尺寸(包括測試工作臺)1200×600×1050mm(長×寬×)
二探針單晶硅及多晶硅測試儀 型號:DP-GL-1
本儀器主要用于測量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況,以便硅材料的切割和加工。
為適應(yīng)大規(guī)模集成電路的迅猛發(fā)展,別是計算機芯片、內(nèi)存的發(fā)展,越來越多的使用到了大直徑、純度、均勻度更的單晶硅材料。目前,在美、德等的工業(yè)家,均采用了二探針法,使用二探針檢測儀來測量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。
儀器符合美ASTM 《“F391-77”關(guān)于二探針測量硅單晶試驗方法》的標(biāo)準(zhǔn),是種新型的半導(dǎo)體電阻率測試儀,適合半導(dǎo)體材料廠和器件廠用于二探針法測量單晶硅和多晶硅半導(dǎo)體棒狀材料的體電阻率,從而步判斷半導(dǎo)體材料的性能,指導(dǎo)和監(jiān)視工藝操作,也可以用來測量金屬材料的電阻,儀器具有測量精度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便、型美觀等點。也可以配四探針測試頭作常規(guī)的四探針法測量硅晶體材料。
儀器分為儀表電氣控制箱、測試臺、探頭三部分,儀表電氣控制箱由靈敏度直流數(shù)字電壓表、抗干擾隔離性能的電源變換裝置、穩(wěn)定精度恒流源和電氣控制部分組成。測量結(jié)果由大型LED數(shù)字顯示,零位穩(wěn)定、輸入阻抗,并設(shè)有自校功能。在棒狀材料使用二探針法測試時,具有系數(shù)修正功能,從面板輸入相應(yīng)的修正系數(shù),可以直接讀出電阻率,使用方便。測試臺結(jié)構(gòu)新穎,型美觀,可以方便地固定好大小任意尺寸的樣品,并可以作逐點選擇步測量,也可以自由選擇固定位置測量,電活動自如,具備鎖定裝置,方便重復(fù)測量。另外還配置了二處記錄板和轉(zhuǎn)椅,測試探頭能自動升降,探針為碳化鎢材料,配置寶石軸承,具有測量精度、游移率小、耐磨、使用壽命長點。同時探頭壓力恒定并且可調(diào)整,以適合不同的材料。
儀器主要指標(biāo):
1.可測硅材料尺寸:
直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的要求。
長度:100~1100mm.
2.測量方式:軸向測量,每隔10mm測量點。
3.測量電阻率范圍:10-3~103Ω-cm,可擴展到105Ω-cm。
4.數(shù)字電壓表:
(1)量 程:0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)測量誤差:±0.3%讀數(shù)±2字
(3)輸入阻抗:0.2mV和2mV檔>106Ω
20mV檔及以上>108Ω
(4)顯 示:31/2位LED數(shù)字顯示,范圍0~1999。
5.恒流源:
(1)電流輸出:直流電流0~100mA連續(xù)可調(diào)。
(2)量 程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
(3)電流誤差:±0.3%讀數(shù)±2字
6.二探針測試裝置:
(1)探針間距:4.77mm
(2)探針機械游移率:0.3%
(3)探針壓力:0~2kg可調(diào)
(4)測試探頭自動升降
7.二探針測試臺
(1)測試硅單長度:100-1100mm
(2)測試點間距:10mm
(3)測試臺有慢、快二種移動速度,快速移動速度為1000mm/分(均勻
手動)
8.電源:交流220V±10%,50HZ±2HZ,消耗功率<150W
注:產(chǎn)品詳細(xì)介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對應(yīng)的