轉(zhuǎn)盤式穩(wěn)態(tài)加速度離心機(jī)也可用來測定恒加速度對微電子器件的影響，其目的是顯示在沖擊和振動試驗時不一定能檢測出的結(jié)構(gòu)和機(jī)械的缺陷，也可用作高應(yīng)力試驗來測定封裝、內(nèi)部金屬化和引線系統(tǒng)、芯片或封底附著能力及微電子器件其他部件的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度極限值。
可以說轉(zhuǎn)盤式穩(wěn)態(tài)加速度離心機(jī)是用來考核產(chǎn)品是否滿足上面各項要求的一種較科學(xué)的、保證試驗具有一定再現(xiàn)性的試驗加載程序及具體操作方法。用離心試驗機(jī)進(jìn)行恒加速度試驗時，不可避免要帶來方法誤差。為了保證試驗的再現(xiàn)性，國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.15中規(guī)定了恒加速度數(shù)值的容差限為－10%～＋30%，即試驗樣品上所有點實際承受的加速度zui小不能小于90%規(guī)定的試驗加速度數(shù)值。試驗時實際承受加速度zui大點不能超過130%規(guī)定的試驗加速度數(shù)值。對于那些幾何尺寸小于10cm的試驗樣品，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了恒加速度數(shù)值的容差限為±10%。
技術(shù)參數(shù)
