Agilent 8509B/C 偏振控制分析仪
Agilent 8509B/C 偏振控制分析仪
Agilent 8509B/C 偏振控制分析仪
安捷伦8509B光波偏振分析仪
安捷伦8509B光波偏振分析仪系统的*个系统是一个提供校准的偏振的光信号的测量和组件。这些新功能提供创新的硬件，软件和数学。硬件的贡献包括一个的四个二极管检测方案，包括1200纳米至1600纳米。单波长，1300和1550 nm的法布里 - 珀罗激光器，以及一个自动的三态偏振发生器中所提供内安捷伦8509B。也可用于外部单波长或波长扫描来源。两个自动偏振模色散（PMD）测量;琼斯矩阵本征分析和扫描波长IME的状态和偏振度的测量
快速，自动测量的光学元件中的偏振相关损耗
HP8509B光偏振分析仪
AGILENT 8509B光波极化分析仪可对光信号或光器件进行校准过的极化测试。 这些功能是建立在硬件、软件和算法革新性突破的基础之上的.8509B可提供包括极化状态测试、极化模式色散测试、极化相关损耗测试和极化保偏光纤对准等功能。
特点：
1.对光信号和光器件进行全面的极化状态分析
2.两种PMD分析方法：波长扫描法和JONES矩阵法
3.极化保偏光纤的对准
AGILENT 8509B光波极化分析仪可对光信号或光器件进行校准过的极化测试。 这些功能是建立在硬件、软件和算法革新性突破的基础之上的.8509B可提供包括极化状态测试、极化模式色散测试、极化相关损耗测试和极化保偏光纤对准等功能。
Agilent 8509C产品简介
Agilent 8509C光偏振分析仪覆盖L波段，可对光信号和元件进行宽工作范围的测量。自动的测量步骤简化了PMD、PDL和保偏光纤对准。对于10至40Gb/s测试，8509C可测量至0.01ps的偏振模式色散。对光信号和材料偏振特性的快速和精确的测量可帮助开发更高性能的光元件和系统，以及低成本的制造流程。
性能特性：
波长工作范围： 1280 nm 至 1640 nm
分辨率： 1 fs
偏振状态测量速率： >3500 ∕秒
PMD 测量范围： 0.01 ps (10 fs) 至 400 ps (取决于设置条件)
