高海拔氣壓試驗箱-詳細資料報價歡迎垂詢
高海拔氣壓試驗箱用途:
適用于國防工業(yè),航天工業(yè)自動化零組件,汽車部件,電子、電器零組件,塑料、化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品在高低溫低氣壓單項或同時作用下,模擬高海拔、高空、(高原地區(qū))氣候進行貯存運用、運輸可靠性試驗,并可同時對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測試。
一、產(chǎn)品特點:
1. 平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTHC),以P.I.D.方式控制SSR,使工作室內(nèi)保持一定的壓
力,并采用智能型數(shù)字溫度調(diào)節(jié)儀進行溫度的顯示與控制設(shè)定,故能*穩(wěn)定
使用.
2. 全新*的造型設(shè)計,外觀高質(zhì)感水平,系統(tǒng)提取日本、西德*技術(shù)之精華
設(shè)計制造.
3. 采用全毛細管,自動負載容量調(diào)整系統(tǒng)技術(shù),較膨脹伐系統(tǒng)更穩(wěn)定可靠,使高低
溫自由轉(zhuǎn)換、設(shè)置、顯示更加精確,升降溫速度快速、平穩(wěn)、均勻,為使用者
節(jié)約寶貴時間.
二、性能:
1. 溫度范圍: -70~+150℃/-50~+150℃/-40~+150℃/-20~+150℃/0~+150℃
2. 控制穩(wěn)定度 : ±0.5℃
3. 分布均勻度 :±1.5℃
4. 正常升溫時間 : +20℃~+150℃小于40分鐘非線性空載。
5. 正常降溫時間: +20~—40℃小于60分鐘.非線性空載.
6. 溫度波動度: ±0.5℃.
7. 溫度均勻度: ±1.5℃.
8. 氣壓范圍:常壓(1.01325×105 Pa)~0.5kPa
u 壓力偏差:當常壓~壓力≥40kPa時,誤差 ≤±2.0kPa;
u 當 2kPa≤壓力<40kPa時,誤差≤±5%;
u 當壓力≤2kPa~0.5kPa時,誤差 ≤±0.1kPa;
u 降壓速率: 常壓~0.5KPa ≤45min(常溫、箱內(nèi)干燥)
u 壓力恢復速率: ≤10kpa/min;
9. 測時間設(shè)置:0~99.59 Hr.
三、機箱結(jié)構(gòu)
1. 圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標準, 可防止試驗
中結(jié)露滴水設(shè)計;
2. 圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計,精密設(shè)計,氣密性良好;
3. 自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,安全門把設(shè)
計,箱內(nèi)有大于常壓時測試們會被反壓保護;
4. 型packing,箱內(nèi)壓力愈小時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)
合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長packing壽命;
5. 實驗開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣
(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度;
6. 臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。
7. 箱體材質(zhì):
1) 外箱材質(zhì): SUS304高級不銹鋼板或A級冷軋板粉體烤漆.(電腦白色)
2) 內(nèi)箱材質(zhì): SUS304高級不銹鋼板.
3) 保溫材質(zhì): 高密度聚氨酯.
四、選型及工作尺寸:
ZT-CTH-80L W寬40XH高50XD深40cm
ZT-CTH-120L W寬50XH高60XD深40cm
ZT-CTH-150L W寬50XH高60XD深50cm
ZT-CTH-225L W寬60XH高75XD深50cm
ZT-CTH-306L W寬60XH高85XD深60cm
ZT-CTH-408L W寬60XH高85XD深80cm
ZT-CTH-800L W寬100XH高100XD深80cm
ZT-CTH-1000L W寬100XH高100XD深100cm
五、控制器系統(tǒng):
1. 采用韓國進口彩色型5.7寸或10.4寸*微電腦液晶顯示觸控式屏幕直接按
鍵型,中英文表示可程控器。
2. 微電腦 P.I.D 自動演算控制溫度.
3. 采用指針顯示正負壓表.
4. 全自動過程控制,操作簡單.
六、安全保護裝置:
1.工作室超溫保護裝置.
2.加熱器短路、過載.
3.壓縮機過流過熱保護裝置.
4.漏電短路器保護開關(guān).
5.鼓風電機過載過流
6.壓縮機壓力保護裝置
七、電源要求:
1.設(shè)備使用電源: AC 1∮3W 220V 50HzAC 或3∮5W 380V 50Hz;電壓變動充許
值: 定格電壓的±10%.
八、執(zhí)行與滿足標準:
1. GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件.
2. GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件.
3. GB/ T 2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則》.
4. GB/ T 2423.21- 1991《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗
方法》 .
5. GB/ T 2423.25- 1992《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫/低
氣壓綜合試驗方法》 .
6. GB/ T 2423.26- 1992《 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫/低
氣壓綜合試驗方法》 .
7. GB/2423.34-86.MIL-STD883(方法1004.2)高低溫組合循環(huán)試驗.
8. GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序.