頻率計/ 頻率計/數(shù)字頻率計 型號：DP-2003

、 概述
尊敬的用戶，感謝您選用本儀器。在使用前請您通讀并弄懂本儀器的細節(jié)，以便正確操作，從而取得的效果。
本儀器是個0.001Hz—2.4G的 頻率計，功能有：頻率測量、累計計數(shù)、周期及晶體測量，工作狀態(tài)記憶等功能，可直測數(shù)字手機的射頻頻率（內市場尚未出現(xiàn)）、手機GSM制射頻幀周期，區(qū)別手機制式（GSM或CDMA），以及晶體固有頻率的測量，全部功能由個單片計算機來成，故儀器體積小巧、簡潔緊湊，功能多，性能可靠，且價格低廉，實是部修理行業(yè)以及電子廠調試*的儀器。
二、指標
（）頻率測量
A、量程：
1檔 30 MHz — 2400 MHz
2檔 1 MHz — 30 MHz（具有衰減，“A”抬起，x 1；“B” 按下，x 20）
3檔 10 Hz — 1 MHz（具有衰減，“A”抬起，x 1；“B”按下，x 20）
8檔 0.001 Hz — 100 Hz（輸入幅度：2.5V—5V，TTL電平）
B、閘門時間：0.1秒、1秒、5秒、10秒共分4檔
C、輸入靈敏度：35 mV — 30 V
D、輸入阻抗：30 MHz — 2.4 GHz為50 Ω、其余為1 MΩ
E、時基：12 MHz，穩(wěn)定度為2 x 10-6/秒
F、精度：基準時間誤差 x 頻率 + 1個計數(shù)值
G、分辯率：1個計數(shù)值（滿量程8位數(shù)顯示時）
（二）周期測量
6檔（下降沿有效），由“常態(tài)/放大”開關行選擇。10 Hz—30 MHz輸入端輸入。輸入幅度2.5—5V，TTL電平，Z大不過5V。Z小周期為30us，Z大周期為4294967295us，可顯示周期數(shù)值99999999，分辯率為1us。
（三） 累計計數(shù)：4檔位10 Hz—30MHz 輸入端輸入，其分辯率為1個計數(shù)值。
（四） 晶體測量：5檔位 插口A測30 KHz — 5MHz（晶體鍵彈出），插口B測2 MHz — 24 MHz晶體，實際可測到50MHz（晶體健按下）。
三、 本儀器的點
A、測量范圍寬、精度：可測0.001Hz—2400MHz的正弦波、方波、三角波等信號的頻率。
B、具有多種測量功能：
① 可測數(shù)字手機的射頻頻率（815—960MHz、1800—1990MHz）以及對講機、無線機的發(fā)射頻率。
② 可識別手機的制式（GSM或CDMA）。
③ 可測GSM制的射頻周期（周期為4615us）。
④ 可測石英晶體振蕩器的固有頻率（30 KHz — 50MHz）。
⑤ 可測輸入信號的周期。
⑥ 可對輸入信號累計計數(shù)，切斷儀器電源后能保存上次的原有狀態(tài)，及具有記憶功能。
四、 儀器的使用
A、頻率的測量：
① 選擇合適的信號輸入端：本儀器面板左邊有三個信號輸入端，Z上為30MHz—2.4GHz信號輸入端，中間為10Hz—30MHz信號輸入端，下面為0.001Hz—100Hz信號輸入端，（2.5V—5V有效）。
② 按動“閘門”按鍵，選好合適的閘門時間，每按動次“閘門”按鍵，閘門時間就變化次，按照0.1秒—1秒—5秒—10秒循環(huán)變化。閘門時間越長，分辨率越，但測試速度也越慢。
③ 按動“檔位”按鍵，測頻率應選擇1、2、3、8各檔位中的個，每檔測量頻率范圍如下：
1檔 30MHz——2400MHz
2檔 1MHz—30MHz（具有衰減，“A”抬起，x 1；“B”
按下，x 20）
3檔 10Hz—1MHz（具有衰減，“A”抬起，x 1；“B”按
下，x 20）
8檔 0.001Hz—100Hz（輸入幅度：2.5V—5V，TTL電平）
④ 按“確定”鍵后，即開始測量并顯示。
由于低頻率時是阻抗，而測試的頻率為低阻抗（如測試50Hz交流電源），此時會產(chǎn)生阻抗嚴重失配，可在低頻的探頭上串接個1MΩ的電阻。
B、周期的測量：
① 可測量周期的范圍：30us—1.19 h，但Z多只能顯示8位數(shù)字。
② 選用中間個輸入端口，測小信號時（35MV—5V）按下“常態(tài)/放大”鍵，“A、B“抬起。測大信號時，“A、B”鍵和“常態(tài)/放大”鍵同時按入。
③ 如TTL電平從Z下面的輸入端輸入，幅度為2.5V—5V有效，“常態(tài)/放大”鍵和“A、B”鍵均抬起。
④ 按動“檔位”鍵，選第6檔，按“確定”鍵后即開始測量并顯示，單位為微秒。
C、累計計數(shù)的方法：
① 選用10Hz—30MHz端口作累計計數(shù)輸入端。
② 檔位選第4檔，按下“確定”鍵后即開始計數(shù)。
③ 停止計數(shù)需切斷信號源。
D、石英晶體固有振蕩頻率的測量：
① 選好合適的晶體測量口：本儀器面板提供兩個晶體測量口，由面板A、B晶體按鍵來選擇。A口可測30KHz—4MHz晶體，B口可測2MHz—24MHz晶體（實際可測到50MHz以上的晶體，24MHz以上晶體用顯示值乘以3即為實際振蕩頻率）。
② 按動“閘門”鍵，選好合適的閘門時間。
③ 按動“檔位”鍵，選第5檔，按“確定”鍵后即開始測量并顯示。
E、手機制式的識別：
① 在30MHz—2.4GHz輸入端口插根長約5公分左右的導線作接收天線。
② 選第6檔位，按“確定”鍵，“常態(tài)/放大”鍵抬起。
③ 用手機撥號后如出現(xiàn)4615us或它的整頻倍時，則表明該手機是GSM制式，反之是CDMA制。測量時出現(xiàn)7-8個微秒的誤差屬正?，F(xiàn)象。
F、手機發(fā)射頻率的測量：
① 在30MHz—2.4GHz輸入端口插根長約5公分左右的導線作接收天線。
② CDMA制手機和模擬手機選用第1檔，GSM手機選用第7檔，閘門均選用0.1秒，“常態(tài)/放大”鍵抬起。
③ 按“確定”鍵后，用手機撥號即可測出并顯示手機發(fā)射頻率。
五、 注意事項
①測量頻強輻射信號時，無線方式應遠離信號源，有線方式應串接大電阻，如果信號過30V時，還應按下面板A、B晶體選擇按鍵（20倍衰減器）以免損壞儀器。
②本機在無信號輸入時，可能是非零顯示，這是正?，F(xiàn)象，不影響測試精度。
③有時儀器可能出現(xiàn)下列現(xiàn)象：數(shù)碼管顯示出非正常數(shù)字（缺筆畫），數(shù)碼管會停止刷新數(shù)字，這并非儀器出現(xiàn)故障，只要再按下復位鍵，儀器便可恢復正常工作。
④本機采用新版CPU，程序已經(jīng)過加密處理。如用戶私自解密成程序損壞，
不屬保修范圍。
⑤測量手機射頻和幀周期時，并不是穩(wěn)定地顯示某數(shù)值，這是手機通信原理所決定的，并非儀器不穩(wěn)定。
⑥8檔位的測量單位是Hz，6檔位的測量單位是微秒。
⑦測對講機發(fā)射頻率應根據(jù)對講機的頻率范圍選擇合適的檔位，且對講機應由遠近靠近頻率計。
⑧測BP機，子母機，對講機的本振頻率應在探頭上串接只5 P左右的小電容后去探測測量點。
⑨測量手機射頻頻率，測周期，測射頻幀周期，計數(shù)和測晶體，共用了個指
示燈。
六、 其它
①電源：交流220 V±20 %、50 Hz
②環(huán)境溫度：-5℃- + 40℃(正常工作時需預熱10分鐘)
③相對濕度：10%-90% RH
④外形尺寸：202mm （寬）x 75 mm（）x 230 mm（長）
⑤重量：約1Kg
⑥附件：測試電纜線根，電源線根，說明書份。