光密度檢測(cè)儀/光密度測(cè)試儀 型號(hào):DP-GMD
有許多的材料,在的過程中,需要監(jiān)控光密度。公司現(xiàn)研發(fā)款針對(duì)線的光密度檢測(cè)設(shè)備。用于過程中,品質(zhì)的監(jiān)控。
光密度檢測(cè)設(shè)備包括以下三部分:
1.探測(cè)系統(tǒng),主要包括光源,接收器和支架(測(cè)試點(diǎn)的多少,由用戶定制)
2.現(xiàn)場(chǎng)顯示系統(tǒng),顯示實(shí)時(shí)的各個(gè)測(cè)試點(diǎn)的光密度參數(shù)。
3.電腦實(shí)時(shí)監(jiān)控采集系統(tǒng)(選配)
光密度(OD)[optical density]定義為材料遮光能力的表征。它用透光鏡測(cè)量,表示被檢測(cè)物吸收掉的光密度,是檢測(cè)方法里出現(xiàn)的有名詞。
光密度沒有量綱單位,是個(gè)對(duì)數(shù)值,光密度是入射光與透射光比值的對(duì)數(shù)或者說是光線透過率倒數(shù)的對(duì)數(shù)。計(jì)算公式為OD=log10(入射光/透射光)或OD=log10(1/透光率)