際社會責任和ISO9001:2008 質(zhì)量認證，同時擁有*的大型的倉儲基地及完善的代理及銷售體系。專業(yè)服務團隊圓滿的解決了客戶的后顧之憂。產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針測試計 多用途綜合測量裝置
產(chǎn)品型號: WS50-1934B
產(chǎn)品編號: 32651
數(shù)字式四探針測試計 多用途綜合測量裝置 的詳細介紹
產(chǎn)品說明
數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用于半導體、太陽能行業(yè)的篩選。
產(chǎn)品特點
儀器由主機、測試探頭（可選配測試臺）等部分組成，測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉(zhuǎn)換量程。測試探頭高分子材料和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。（自動調(diào)零）
產(chǎn)品外觀
詳細參數(shù)
測量范圍 電阻率：10-2～102Ω-cm；方塊電阻：10-1～103Ω/□；電阻：10-3～9999Ω
可測半導體材料尺寸 直徑：Φ15～100mm； 長（或高）度： ≤400mm
電源
功 耗：<1W； 電源適配器：輸入:220V±10% 50Hz； 輸出:DC5V±10%
外形尺寸 主機 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H）
數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量，適用于半導體、太陽能行業(yè)的篩選。
產(chǎn)品特點
儀器由主機、測試探頭（可選配測試臺）等部分組成，測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉(zhuǎn)換量程。測試探頭高分子材料和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。（自動調(diào)零）
產(chǎn)品外觀
詳細參數(shù)
測量范圍 電阻率：10-2～102Ω-cm；方塊電阻：10-1～103Ω/□；電阻：10-3～9999Ω
可測半導體材料尺寸 直徑：Φ15～100mm； 長（或高）度： ≤400mm
電源
功 耗：<1W； 電源適配器：輸入:220V±10% 50Hz； 輸出:DC5V±10%
外形尺寸 主機 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H）
