高低溫交變濕熱試驗箱是、汽車、家電、科研等領域*的測試設備,用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數及性能;、或恒定濕熱試驗的溫度環(huán)境變化后的參數及性能.適用于學校,工廠,,研位,等單位。
半導體高低溫老化試驗箱型號與參數:
型號 :TH-100 TH-150 TH-225 TH-408 TH-800 TH-1000
工作尺寸 :40×50×40 50×60×50 60×75×50 60×85×80 100×100×80 100×100×100
外型尺寸cm :120×165×115 130×170×125 140×185×130 165×195×155 185×200×175 190×210×185
半導體高低溫老化試驗箱溫度范圍:(A:+25℃; B:0℃;C:-20℃; D:-40℃;E:-60℃;F:-70℃)高溫:100℃(150℃)
符合標準
試驗箱具有較寬的溫濕度調節(jié)控制范圍,可滿足標準本產品滿足GB 2423.1--2001、GB 2423.2—2001、GB2423.3-2001、GB2423.4-2001等標準《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程》A:低溫試驗方法,試驗B:高溫試驗方法,試驗Ca:恒定濕熱試驗方法,試驗Db:交變濕熱試驗方法》要求。GB 10592—89、GB/T5170.2-96標準制造件,并可按軍標試驗要求GJB150.3-86,GJB150.4-86,及非標準制作各種高低溫環(huán)境試驗。并等效滿足GJB150.9-86等相應的國標、軍標;也可按客戶的要求制造非標準產品。
半導體高低溫老化試驗箱也可按客戶需要定制非標試驗箱:
溫度波動度:±0.5℃
溫度偏差: ≤±2℃
濕度范圍:30~98% R•H
濕度偏差: +2~-3% R•H
升降溫平均速率: 0.7℃~1.0℃/min
時間設定范圍: 0~9999 小時
電源要求:AC380V
半導體高低溫老化試驗箱箱體結構:
箱體采用數控機床加工成型,造型美觀大方,并采用無反作用把手,操作簡便。
箱體內膽采用進口不銹鋼(SUS304)鏡面板,箱體外膽采用A3鋼板噴塑,增加了外觀質感和潔凈度。
大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮,且利用發(fā)熱體內嵌式鋼化玻璃,隨時清晰的觀測箱內狀況。
配直徑50mm的測試孔,可供外接測試電源線或信號線使用
免費送貨上門,并安裝調試操作介紹(直到需方員工獨立操作并滿意為止)
:鐘, : ; !