能特點 全中文菜單操作模式,方便快捷超高亮彩色液晶顯示器超聲衍射波探傷,解決傳統(tǒng)探傷單次掃查區(qū)域的局限性和不直觀性缺陷A掃、厚度B掃、B掃、P掃、D掃全屏直觀顯示便攜掃查器代替手工掃查,探傷更快、更精確多通道TOFD探傷,實現焊縫非平行掃查一次性全面覆蓋超大機內存儲空間,探傷數據回放及離線分析高性能安保鋰電,模塊插接,一機兩電,超長續(xù)航。
1.高亮度高分辨力彩色液晶顯示屏。 2.內置探頭位置編碼器。 3.USB,LAN,VGA輸出接口。 4.大容量數據存儲空間。 5.支持縱波、橫波、導波和表面波等模式。 6.具備A掃、腐蝕剖面、B掃、P掃和TOFD成像。 7.單次掃查能記錄長達2米。 8.回放圖像記錄中每點位置的A掃波形。 9.強化的對活動或凍結的A掃波形信號評估軟件。 10.缺陷尺寸和模式分析。 11.符合國內4730標準和國外EN、DNV、API、ASME、RBIM等有關標準要求。 12.可根據用戶要求增減TOFD配置,由單個通道配置到7個通道10個探頭同時掃查和記錄200mm厚度工件。 13.配置便于使用的手動掃查器。 14.配置TOFD探頭和PE探頭。 技術參數 數字電路采樣頻率:125M 頻率帶寬:0.5~15MHZ 采樣延時:1200mm 脈沖電壓:-400V 脈沖前沿:15ns 重復頻率:125HZ 匹配阻抗:25Ω、500Ω2 檔可調檢波方式:數字檢波方式 增益范圍:0dB~110dB(0.1dB、2.0dB、6.0dB步進,全自動調節(jié)) 閘門數:每通道2個位 掃描范圍多路TOFD檢測和PE檢測全面覆蓋200mm厚度以內焊縫的分區(qū)掃查 探傷功能掃查方式:可對焊縫進行全面的平行和非平行掃查缺陷定位:數據分析線能直接讀出缺陷深度以及非點狀缺陷的自身高度焊縫內部缺陷顯示:直觀顯示焊縫中缺陷的位置和上下端點位置 A型掃描:射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力 B型掃描:實時顯示缺陷截面形狀 D型掃描:實時顯示缺陷的灰度掃查圖,直觀顯示缺陷并對缺陷模式進行評價 E數據存儲與輸出1通道、5通道、7通道三種可選,預先調校好各類探頭與儀器的組合參數,方便存儲、離線分析、復驗、打印、通訊傳輸超大內存容量,單次掃查即能記錄長達2米被檢工件內部缺陷的檢測圖支持USB、LAN、VGA輸出
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