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DP-PH-II 變溫粘滯系數(shù)實(shí)驗(yàn)儀

參考價(jià)
面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號DP-PH-II
  • 品牌亞歐
  • 所在地北京市
  • 更新時(shí)間2016-06-30
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 入駐年限13
  • 實(shí)名認(rèn)證已認(rèn)證
  • 產(chǎn)品數(shù)量20891
  • 人氣值685881
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北京亞歐德鵬科技有限公司是一家集研、生產(chǎn)、銷、服務(wù)于一體的企業(yè)。在國內(nèi)設(shè)有多個(gè)辦事處。

北京亞歐德鵬科技有限公司是產(chǎn)品系統(tǒng)集成商,引進(jìn)在線、離線儀器儀表、機(jī)械設(shè)備與材料,為用戶提供了產(chǎn)品和服務(wù),在冶金煤礦、石油、化工、環(huán)保、電子、機(jī)械、光學(xué)、通訊、科研及院校等領(lǐng)域,與多廠家有合作關(guān)系。目前我公司與許多儀器儀表廠商定有代理協(xié)議。

 

 

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變溫粘滯系數(shù)實(shí)驗(yàn)儀 型號:DP-PH-II
該儀器是在HN-PH-II型落針粘滯系數(shù)實(shí)驗(yàn)儀的基礎(chǔ)上,增加了套調(diào)溫范圍在室溫到50℃的控溫裝置。
變溫粘滯系數(shù)實(shí)驗(yàn)儀 產(chǎn)品詳情

變溫粘滯系數(shù)實(shí)驗(yàn)儀  型號:DP-PH-II

變溫粘滯系數(shù)實(shí)驗(yàn)儀  型號:DP-PH-II產(chǎn)品介紹:

  該儀器是在DP-PH-II型落針粘滯系數(shù)實(shí)驗(yàn)儀的基礎(chǔ)上,增加了套調(diào)溫范圍在室溫到50℃的控溫裝置。利用該機(jī)可測出在此范圍內(nèi)任意溫度的液體粘滯系數(shù),突破了由于環(huán)境溫度影響而對實(shí)驗(yàn)成的限制,并由此可畫出液體粘滯系數(shù)隨溫度變化的曲線,從而拓寬了學(xué)生處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的范圍和實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。

變溫粘滯系數(shù)實(shí)驗(yàn)儀  型號:DP-PH-II儀器由三部分組成:

  主機(jī)(附傳感器)

  控溫裝置

  單板機(jī)

  工作電壓:AC220V±5% 50Hz

  測量精度:≤8%

  重量:10kg

 

 

 

 

 

微型速能粉碎機(jī) 能粉碎機(jī) 粉碎機(jī) 型號:DP-WWFS-Ⅱ

該機(jī)可用于破碎煤炭、焦炭、礦物質(zhì)、土壤、砂、石和植物種子。適用于煤炭、焦化、地質(zhì)、醫(yī)藥衛(wèi)生、農(nóng)業(yè)、工業(yè)的科研單位和化驗(yàn)制樣室制取少量試樣用。


二、主要指標(biāo)


轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)速:210000r/min


入料粒度:-6mm


出料粒度:≤60-120


每次入料量:≤50g


粉碎時(shí)間:3-5秒


電源:220V 50HZ

三、該產(chǎn)品點(diǎn)


1、轉(zhuǎn)速:≥10000轉(zhuǎn)/分

2、效率:50g物料僅需要3-5秒便可成粉碎,即簡便又快速。

3、密封性好;工作中沒有被粉碎的物料泄漏,使工作環(huán)境保持清潔。

4、性能穩(wěn)定:可連續(xù)工作,使用壽命長。

 

 

 

 

半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀/粉末電阻率測試儀 型號:DP-FZ-2006

本儀器是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測試需要,參照有關(guān)際標(biāo)準(zhǔn)的。 儀器的電流輸出為 10 µA - 100 mA ,電阻率測試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm ,直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和

穩(wěn)定性大大增強(qiáng),更方便于用戶, 而且價(jià)格低廉、實(shí)惠。配置不同的測試架可以對半導(dǎo)體粉末、分子納米粉末和固態(tài)金屬行電阻、電阻率多用途的測量。

適用于有機(jī)、無機(jī)半導(dǎo)體粉末材料(包括納米)的電阻率測量, 也可以測量固體半導(dǎo)體材料,別適合于太陽能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測量、分選和質(zhì)量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有精度加壓系統(tǒng), 度測量的測試臺和儀器組成.

儀器主要包括電氣箱和測試架兩部分,電氣測試部分由精度直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器,加壓機(jī)構(gòu)和粉末標(biāo)準(zhǔn)容器組成。壓力機(jī)構(gòu)采用手動操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測量精度,穩(wěn)定性好,重復(fù)性好,使用方便等點(diǎn), 并有自校功能。

本儀器采用際通用的電流-電壓降法即四端子測量法,可以消除電與粉末接觸產(chǎn)生的接觸電阻誤差,還可以消除聯(lián)接系統(tǒng)所帶來的誤差,克服了以往傳統(tǒng)的二端測量粉末電阻率儀器的弊病,真實(shí)、準(zhǔn)確地測量出粉末樣品的電阻率,因此重復(fù)性好。

本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、等院校、科研、是檢驗(yàn)和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的種重要工具。

參數(shù);

  1. 測量范圍:
    • 電阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω
    • 電阻率 10-4 - 105 Ω.cm,分辨率 10-4 Ω.cm

測量誤差 ±(0.3% 讀數(shù) + 2 字)

  1. 測量電壓量程:20mV, 200mV, 2V,分辨率 10 µV
    測量精度: ±(0.3% 讀數(shù) + 2 字)
  2. 測量電流:0 - 100 mA 連續(xù)可調(diào),
    電流量程:10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA
  3. 試樣粒度:40 目以下 - 60 目以上(標(biāo)準(zhǔn)篩網(wǎng))納米粉末
  4. 試樣容器:內(nèi)腔Φ16.30 ± 0.1mm
  5. 試樣度:16mm ± 0.5mm 
    測量誤差:±0.1mm
  6. 取樣壓力:4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)
    壓力量程:0 - 100 kg 可調(diào)
  7. 顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數(shù)字顯示,并自動顯示單位和小數(shù)點(diǎn)
  8. 電源:220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
  9. 外形尺寸電氣箱:440mm×120mm×320mm
  10. 備有粉末測試架和固態(tài)標(biāo)準(zhǔn)樣品測試臺供選用

?

 

 

 

半導(dǎo)體電阻率測試儀/電阻率測試儀/半導(dǎo)體電阻率測定儀(含探頭和測試架) 型號:DP-BD-86A

DP-BD-86A型半導(dǎo)體電阻率測試儀是我廠推出的的普及型半導(dǎo)體電阻率測試儀器,本儀器是根據(jù)四探針原理,適合半導(dǎo)體器材廠,材料廠用于測量半導(dǎo)體材料(片狀、棒狀)的體電阻率,方塊電阻(簿層電阻),也可以用作測量金屬薄層電阻,經(jīng)過對用戶、半導(dǎo)體廠測試的調(diào)查,根據(jù)美ASTM標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,在電路和探頭方面作了重大的修改和上的許多突破,它更適合于半導(dǎo)體器材廠工藝檢測方面對中值、阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要,成為普及型的電阻率測試儀,具有測量精度,穩(wěn)定性好,輸入阻抗,使用方便、價(jià)格低廉等點(diǎn)。

   儀器主要指標(biāo):

1.  測量范圍:電阻率10-3—103Ω-cm,分辯率為 10-4Ω-cm ,可擴(kuò)展到105Ω-cm

  方塊電阻10-2—104Ω/□,分辯率為10-3Ω/□,可擴(kuò)展到106Ω/□

薄層金屬電阻10-4—105Ω,分辯率為10-4Ω

2.可測半導(dǎo)體材料尺寸:直徑Φ15—Φ125mm;  長度:150mm(可擴(kuò)展500mm)

     3.測量方式:軸向、斷面均可

4.?dāng)?shù)字電壓表:(1)量程:20mV(分辯率:10μV)、200mV、2V

             (2)測量誤差:±0.3%讀數(shù)±1字

             (3)輸入阻抗:大于108Ω

             (4)顯示3 1/2 位紅色發(fā)光二管(LED)數(shù)字顯示

                  0---1999具有性、過載、小數(shù)點(diǎn)、單位自動顯示

5.恒流源:由交流供電,具有良好的防泄漏隔離功能

(1)       直流電流:0—100mA連續(xù)可調(diào)

(2)       量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

(3)       分辯率:10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA

(4)       電流誤差:±0.3%讀數(shù)±2字

6.電性能模擬考核誤差:<±0.3%符合ASTM指標(biāo)

7.測試探頭:(1)探針機(jī)械游移率:± 0.3% 符合ASTM 指標(biāo)

8.電源:交流220V±10%   50HZ或60HZ  功率消耗< 30W

9.電氣箱外形尺寸:119×440×320mm

 

 

 

 

 

數(shù)字式四探針測試儀/四探針測試儀/數(shù)字式四探針檢測儀 型號:DP-SZT-2000

DP-SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置,它可以測量棒狀、塊狀

半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散層的薄層電阻行測量,可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻,是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。

儀器為臺式結(jié)構(gòu),分為電氣箱、測試架兩大部分,用戶可以根據(jù)測試需要安放在般工作臺或者用工作臺上,測試架由探頭及壓力傳動機(jī)構(gòu)、樣品架組成,耐磨和使用壽命長的點(diǎn)。探頭內(nèi)設(shè)有彈簧壓力裝置,壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào),測試架設(shè)有手動和電動兩種裝置供用戶選購。

儀器電氣箱主要由靈敏的直流數(shù)字電壓表和穩(wěn)定的恒流源組成,測量結(jié)果由數(shù)字直接顯示,儀器有自校量程,可以方便地對儀器的電氣性能行校驗(yàn)。

儀器具有測量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、測量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等點(diǎn),儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科學(xué)研究、等院校,對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試及工藝檢測。

儀器主要指標(biāo):

1.  范圍:電阻率10-4—103Ω—cm,可擴(kuò)展至105Ω—cm,分辯率為10-6Ω—cm

         方塊電阻10-3—103Ω /□

         電阻10-6—105Ω

2.  可測半導(dǎo)體尺寸:直徑Φ15—150mm

3.  測量方式:軸向、斷面均可(手動測試架)

4.  數(shù)字電壓表(1)量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

  (2)測量誤差 0.2mV檔±(0.3%讀數(shù)+8字)

              2 mV檔以上±(0.3%讀數(shù)+2字)

  (3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω

              20mV檔以上>108Ω

  (4)顯示3 1/2位數(shù)字顯示,0—1999

具有性和過載自動顯示,小數(shù)點(diǎn)、單位自動顯示

5.  恒流源:(1)電流輸出:直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào),由交流電源供給

   (2)量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔

   (3)電流誤差:±(0.3%讀數(shù)+2字)

6.四探針測試探頭  (1)探頭間距:1mm   (2)探針機(jī)械游率:±0.3%

                   (3) 探針:Φ0.5mm    (4)壓力:可調(diào)

  7. 測試架:

  (1)手動測試架:探頭上升及下降由手動操作,可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。

  (2)電動測試架:探頭的上升和下降由電動操作,設(shè)有自動控制器控制,探頭上升時(shí)間1S—99S可調(diào),探頭下降時(shí)間1S—99S可調(diào),壓力恒定可調(diào)(由砝碼來設(shè)定)同時(shí)設(shè)有腳踏控制裝置由腳踏開關(guān)控制探頭上下運(yùn)動。

   8.電流:220V±10% 50HZ或60HZ:功率消耗<35W

9.    外形尺寸:電氣箱130×110×400mm

 

注:產(chǎn)品詳細(xì)介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對應(yīng)的 

 

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