變溫粘滯系數(shù)實(shí)驗(yàn)儀 型號:DP-PH-II
變溫粘滯系數(shù)實(shí)驗(yàn)儀 型號:DP-PH-II產(chǎn)品介紹: |
該儀器是在DP-PH-II型落針粘滯系數(shù)實(shí)驗(yàn)儀的基礎(chǔ)上,增加了套調(diào)溫范圍在室溫到50℃的控溫裝置。利用該機(jī)可測出在此范圍內(nèi)任意溫度的液體粘滯系數(shù),突破了由于環(huán)境溫度影響而對實(shí)驗(yàn)成的限制,并由此可畫出液體粘滯系數(shù)隨溫度變化的曲線,從而拓寬了學(xué)生處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的范圍和實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。 變溫粘滯系數(shù)實(shí)驗(yàn)儀 型號:DP-PH-II儀器由三部分組成: 主機(jī)(附傳感器) 控溫裝置 單板機(jī) 工作電壓:AC220V±5% 50Hz 測量精度:≤8% 重量:10kg |
微型速能粉碎機(jī) 能粉碎機(jī) 粉碎機(jī) 型號:DP-WWFS-Ⅱ
該機(jī)可用于破碎煤炭、焦炭、礦物質(zhì)、土壤、砂、石和植物種子。適用于煤炭、焦化、地質(zhì)、醫(yī)藥衛(wèi)生、農(nóng)業(yè)、工業(yè)的科研單位和化驗(yàn)制樣室制取少量試樣用。
二、主要指標(biāo)
轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)速:210000r/min
入料粒度:-6mm
出料粒度:≤60-120
每次入料量:≤50g
粉碎時(shí)間:3-5秒
電源:220V 50HZ
三、該產(chǎn)品點(diǎn)
1、轉(zhuǎn)速:≥10000轉(zhuǎn)/分
2、效率:50g物料僅需要3-5秒便可成粉碎,即簡便又快速。
3、密封性好;工作中沒有被粉碎的物料泄漏,使工作環(huán)境保持清潔。
4、性能穩(wěn)定:可連續(xù)工作,使用壽命長。
半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀/粉末電阻率測試儀 型號:DP-FZ-2006
本儀器是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測試需要,參照有關(guān)際標(biāo)準(zhǔn)的。 儀器的電流輸出為 10 µA - 100 mA ,電阻率測試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm ,直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和
穩(wěn)定性大大增強(qiáng),更方便于用戶, 而且價(jià)格低廉、實(shí)惠。配置不同的測試架可以對半導(dǎo)體粉末、分子納米粉末和固態(tài)金屬行電阻、電阻率多用途的測量。
適用于有機(jī)、無機(jī)半導(dǎo)體粉末材料(包括納米)的電阻率測量, 也可以測量固體半導(dǎo)體材料,別適合于太陽能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測量、分選和質(zhì)量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有精度加壓系統(tǒng), 度測量的測試臺和儀器組成.
儀器主要包括電氣箱和測試架兩部分,電氣測試部分由精度直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器,加壓機(jī)構(gòu)和粉末標(biāo)準(zhǔn)容器組成。壓力機(jī)構(gòu)采用手動操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測量精度,穩(wěn)定性好,重復(fù)性好,使用方便等點(diǎn), 并有自校功能。
本儀器采用際通用的電流-電壓降法即四端子測量法,可以消除電與粉末接觸產(chǎn)生的接觸電阻誤差,還可以消除聯(lián)接系統(tǒng)所帶來的誤差,克服了以往傳統(tǒng)的二端測量粉末電阻率儀器的弊病,真實(shí)、準(zhǔn)確地測量出粉末樣品的電阻率,因此重復(fù)性好。
本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、等院校、科研、是檢驗(yàn)和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的種重要工具。
參數(shù);
- 測量范圍:
- 電阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω
- 電阻率 10-4 - 105 Ω.cm,分辨率 10-4 Ω.cm
測量誤差 ±(0.3% 讀數(shù) + 2 字)
- 測量電壓量程:20mV, 200mV, 2V,分辨率 10 µV
測量精度: ±(0.3% 讀數(shù) + 2 字) - 測量電流:0 - 100 mA 連續(xù)可調(diào),
電流量程:10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA - 試樣粒度:40 目以下 - 60 目以上(標(biāo)準(zhǔn)篩網(wǎng))納米粉末
- 試樣容器:內(nèi)腔Φ16.30 ± 0.1mm
- 試樣度:16mm ± 0.5mm
測量誤差:±0.1mm - 取樣壓力:4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)
壓力量程:0 - 100 kg 可調(diào) - 顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數(shù)字顯示,并自動顯示單位和小數(shù)點(diǎn)
- 電源:220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
- 外形尺寸電氣箱:440mm×120mm×320mm
- 備有粉末測試架和固態(tài)標(biāo)準(zhǔn)樣品測試臺供選用
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半導(dǎo)體電阻率測試儀/電阻率測試儀/半導(dǎo)體電阻率測定儀(含探頭和測試架) 型號:DP-BD-86A
DP-BD-86A型半導(dǎo)體電阻率測試儀是我廠推出的的普及型半導(dǎo)體電阻率測試儀器,本儀器是根據(jù)四探針原理,適合半導(dǎo)體器材廠,材料廠用于測量半導(dǎo)體材料(片狀、棒狀)的體電阻率,方塊電阻(簿層電阻),也可以用作測量金屬薄層電阻,經(jīng)過對用戶、半導(dǎo)體廠測試的調(diào)查,根據(jù)美ASTM標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,在電路和探頭方面作了重大的修改和上的許多突破,它更適合于半導(dǎo)體器材廠工藝檢測方面對中值、阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要,成為普及型的電阻率測試儀,具有測量精度,穩(wěn)定性好,輸入阻抗,使用方便、價(jià)格低廉等點(diǎn)。
儀器主要指標(biāo):
1. 測量范圍:電阻率10-3—103Ω-cm,分辯率為 10-4Ω-cm ,可擴(kuò)展到105Ω-cm
方塊電阻10-2—104Ω/□,分辯率為10-3Ω/□,可擴(kuò)展到106Ω/□
薄層金屬電阻10-4—105Ω,分辯率為10-4Ω
2.可測半導(dǎo)體材料尺寸:直徑Φ15—Φ125mm; 長度:150mm(可擴(kuò)展500mm)
3.測量方式:軸向、斷面均可
4.?dāng)?shù)字電壓表:(1)量程:20mV(分辯率:10μV)、200mV、2V
(2)測量誤差:±0.3%讀數(shù)±1字
(3)輸入阻抗:大于108Ω
(4)顯示3 1/2 位紅色發(fā)光二管(LED)數(shù)字顯示
0---1999具有性、過載、小數(shù)點(diǎn)、單位自動顯示
5.恒流源:由交流供電,具有良好的防泄漏隔離功能
(1) 直流電流:0—100mA連續(xù)可調(diào)
(2) 量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
(3) 分辯率:10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA
(4) 電流誤差:±0.3%讀數(shù)±2字
6.電性能模擬考核誤差:<±0.3%符合ASTM指標(biāo)
7.測試探頭:(1)探針機(jī)械游移率:± 0.3% 符合ASTM 指標(biāo)
8.電源:交流220V±10% 50HZ或60HZ 功率消耗< 30W
9.電氣箱外形尺寸:119×440×320mm
數(shù)字式四探針測試儀/四探針測試儀/數(shù)字式四探針檢測儀 型號:DP-SZT-2000
DP-SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置,它可以測量棒狀、塊狀
半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散層的薄層電阻行測量,可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻,是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。
儀器為臺式結(jié)構(gòu),分為電氣箱、測試架兩大部分,用戶可以根據(jù)測試需要安放在般工作臺或者用工作臺上,測試架由探頭及壓力傳動機(jī)構(gòu)、樣品架組成,耐磨和使用壽命長的點(diǎn)。探頭內(nèi)設(shè)有彈簧壓力裝置,壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào),測試架設(shè)有手動和電動兩種裝置供用戶選購。
儀器電氣箱主要由靈敏的直流數(shù)字電壓表和穩(wěn)定的恒流源組成,測量結(jié)果由數(shù)字直接顯示,儀器有自校量程,可以方便地對儀器的電氣性能行校驗(yàn)。
儀器具有測量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、測量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等點(diǎn),儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科學(xué)研究、等院校,對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試及工藝檢測。
儀器主要指標(biāo):
1. 范圍:電阻率10-4—103Ω—cm,可擴(kuò)展至105Ω—cm,分辯率為10-6Ω—cm
方塊電阻10-3—103Ω /□
電阻10-6—105Ω
2. 可測半導(dǎo)體尺寸:直徑Φ15—150mm
3. 測量方式:軸向、斷面均可(手動測試架)
4. 數(shù)字電壓表(1)量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)測量誤差 0.2mV檔±(0.3%讀數(shù)+8字)
2 mV檔以上±(0.3%讀數(shù)+2字)
(3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω
20mV檔以上>108Ω
(4)顯示3 1/2位數(shù)字顯示,0—1999
具有性和過載自動顯示,小數(shù)點(diǎn)、單位自動顯示
5. 恒流源:(1)電流輸出:直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào),由交流電源供給
(2)量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔
(3)電流誤差:±(0.3%讀數(shù)+2字)
6.四探針測試探頭 (1)探頭間距:1mm (2)探針機(jī)械游率:±0.3%
(3) 探針:Φ0.5mm (4)壓力:可調(diào)
7. 測試架:
(1)手動測試架:探頭上升及下降由手動操作,可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。
(2)電動測試架:探頭的上升和下降由電動操作,設(shè)有自動控制器控制,探頭上升時(shí)間1S—99S可調(diào),探頭下降時(shí)間1S—99S可調(diào),壓力恒定可調(diào)(由砝碼來設(shè)定)同時(shí)設(shè)有腳踏控制裝置由腳踏開關(guān)控制探頭上下運(yùn)動。
8.電流:220V±10% 50HZ或60HZ:功率消耗<35W
9. 外形尺寸:電氣箱130×110×400mm
注:產(chǎn)品詳細(xì)介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對應(yīng)的