CH-1-ST型薄膜測(cè)厚儀,薄膜測(cè)厚儀,生產(chǎn)薄膜測(cè)厚儀,上海薄膜測(cè)厚儀
CH-1-ST型薄膜測(cè)厚儀適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片)。
本測(cè)厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。:
CH-1-ST型薄膜測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):
◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm
◎上測(cè)頭曲率半徑:15-50mm
◎測(cè)頭對(duì)試樣施加負(fù)荷:0.1-0.5N
◎測(cè)量精度: 100vm以內(nèi) <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm
◎執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB6672-86
◎本測(cè)厚儀適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片).
上海隆拓專業(yè)生產(chǎn): CH-1-ST型薄膜測(cè)厚儀,薄膜測(cè)厚儀,生產(chǎn)薄膜測(cè)厚儀,上海薄膜測(cè)厚儀