美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀
質。
*代理美國 Thermo、日本 SEIKO 及韓國 Micro Pioneer的 X-射線測厚儀。此儀器主要應用于線路板的鍍層或涂層厚度的測量,而且特別適用于對微細表面積或超薄鍍層的測量。此外,針對PCB線路板生產的不同工序,我司亦有以下不同產品可供選擇:1 韓國Micro Pioneer X-射線測厚儀1 美國UPA / VEECO非破壞性厚度測試儀1 美國禾威(WALCHEM)電鍍藥液自動添加系統(tǒng)1 日本SEIKO(SII)X射線螢光測厚儀及元素分析儀1 日本KETT手提式渦流 / 磁感測試儀1 美國CECO PCB基材測試系統(tǒng)1 美國ECI電鍍藥液分析系統(tǒng)1 美國UNITRON工業(yè)用顯微鏡系統(tǒng)及表面光滑度測試儀1 美國EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品1 德國SCAN-DIA研磨 / 拋光器材及消耗品1 德國WTW實驗室 / 工業(yè)用水質檢查系統(tǒng)1 美國DeltaTRAK溫度測試儀器多年來,我們一直致力于為半導體生產行業(yè),PCB 廠商及一般電鍍業(yè)等行業(yè)提供優(yōu)質服務,讓客戶滿意,為客戶較大限度創(chuàng)造價值是我們始終堅持的目標,因為我們相信,客戶的需要就是我們前進的動力。德國SCAN-DIA半自動研磨機德國SCAN-DIA微型低速切片機美國EXTECH金相切片機美國EXTECH研磨機美國EXTECH雙盤研磨機美國EXTECH自動研磨機取樣切割碟鉆石磨光膏,粉,劑水晶膠凝膠杯沙紙&絨布樣品夾微型*微型真空抽氣泵金相切片測量套裝金相測量軟件美國UNITRON高級金相顯微鏡美國UNITRON直立式金相顯微鏡美國UNITRON倒立式金相顯微鏡德國 Roentgenanalytik X射線熒光測厚儀
美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀
產品名稱 | 參考價 | 地區(qū) | 公司名稱 | 更新時間 | |
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