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DP-TT240 涂層測厚儀/測厚儀/數(shù)字式涂層測厚儀

參考價
面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號DP-TT240
  • 品牌亞歐
  • 所在地北京市
  • 更新時間2016-03-19
  • 廠商性質生產(chǎn)廠家
  • 入駐年限13
  • 實名認證已認證
  • 產(chǎn)品數(shù)量20891
  • 人氣值685104
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北京亞歐德鵬科技有限公司是一家集研、生產(chǎn)、銷、服務于一體的企業(yè)。在國內(nèi)設有多個辦事處。

北京亞歐德鵬科技有限公司是產(chǎn)品系統(tǒng)集成商,引進在線、離線儀器儀表、機械設備與材料,為用戶提供了產(chǎn)品和服務,在冶金煤礦、石油、化工、環(huán)保、電子、機械、光學、通訊、科研及院校等領域,與多廠家有合作關系。目前我公司與許多儀器儀表廠商定有代理協(xié)議。

 

 

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涂層測厚儀/測厚儀/數(shù)字式涂層測厚儀 型號:DP-TT240
本儀器是種手持式測量儀,它能快速、無損傷、地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度
涂層測厚儀/測厚儀/數(shù)字式涂層測厚儀 產(chǎn)品詳情

涂層測厚儀/測厚儀/數(shù)字式涂層測厚儀  型號:DP-TT240

涂層測厚儀/測厚儀/數(shù)字式涂層測厚儀  型號:DP-TT240產(chǎn)品概述:

    本儀器是種手持式測量儀,它能快速、無損傷、地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度??蓮V泛用于在制業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測域。本儀器是材料保護業(yè)的儀器。本儀器符合以下標準: GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》

涂層測厚儀/測厚儀/數(shù)字式涂層測厚儀  型號:DP-TT240功能點:

    本儀器采用了渦流測厚法,可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度(如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層)
z 具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);
z 具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);
z 設有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、Z大值(MAX)、Z小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(S.DEV);
z 可行零點校準和二點校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差行修正;
z 具有存貯功能:可存貯350 個測量值;
z 具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便行新的測量;
z 可設置限界:對限界外的測量值能自動報警;
z 具有打?。嚎纱蛴y量值、統(tǒng)計值;
z 具有與PC 機通訊的功能:可將測量值、統(tǒng)計值傳輸至PC 機,以便對數(shù)據(jù)行步處理;
z 具有電源欠壓指示功能;
z 操作過程有蜂鳴聲提示;
z 具有錯誤提示功能;
z 具有自動關機功能

涂層測厚儀/測厚儀/數(shù)字式涂層測厚儀  型號:DP-TT240參數(shù):

測頭類型

N

測量原理

電渦流

測量范圍

0-1250um/0-40um(銅上鍍鉻)

低限分辨力

1µm(10um以下為0.1um)

探頭連接方式

分體式導線連接

示值誤差

點校準(um)

±[3%H+1.5]

兩點校準(um)

±[(1%~3%)H+1.5]

測量條件

Z小曲率半徑(mm)

凸3 凹10

基體Z小面積的直徑(mm)

ф5

Z小臨界厚度(mm)

0.3

溫濕度

0~40℃
20%RH~90%RH

統(tǒng)計功能

平均值(MEAN)、Z大值(MAX)、Z小值(MIN)、
測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(S.DEV)

工作方式

直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)

測量方式

連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)

上下限設置

存儲能力

350 個測量值

打印/連接計算機

可選配打印機/能連接電腦

關機方式

手動和自動

電源

二節(jié)AA型堿性電池

外形尺寸

152×47×35mm

重量

370g

基本配置:

z主機
z標準片套(50um 100um 200um 500um 1000um)
z鋁基體
z二節(jié)AA型(5號)1.5V電池
z儀器保護套

可選附件:DP-TA230打印機

 

 

 

 

 

四探針電阻率測試儀/四探針電阻率/方阻測定儀 型號:DP-2253
概述
  
      DP-2253型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。
    儀器成套組成:由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。
    主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成,USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關輸入;具有零位、滿度自校功能;測試功能可自動/手動方式;儀器操作可由配套軟件在PC機上操作成,也可脫PC機由四探針儀器面板上立操作成。測試結果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示,也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打??!
    探頭選配:根據(jù)不同材料性需要,探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
    測試臺選配:般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺,也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率,選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。
      
    儀器具有測量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、 化程度、測量簡便、結構緊湊、使用方便等點。
    儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本參數(shù)
3.1  測量范圍
     電  阻:1×10-4~2×105 Ω   ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω
    電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm    方  阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
3.2  材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)
     直    徑:DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
    DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限.
    長()度:測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
    測量方位: 軸向、徑向均可
3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表:
    (1)量程: 20.00mV~2000mV
   (2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.4 數(shù)控恒流源
    (1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA,1A
   (2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.5 四探針探頭(選配其或加配全部)
    (1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調(diào)
   (2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 0~0.6kg 可調(diào)
3.6. 電源
    輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗:<20W
3.7.外形尺寸:
    主   機  220mm(長)×245 mm(寬)×100mm()
   凈   重:≤2.5kg

 

 

 

 

數(shù)字式四探針測試儀/電阻率/方阻測試儀 型號:DP-2258C
 
概述
      DP-2258C型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。 
      儀器成套組成:由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。 
主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入;具有零位、滿度自校功能;電壓電流全自動轉換量程;測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀贈設測試結果分類功能,Z大分類10類。 
      探頭選配:根據(jù)不同材料性需要,探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。 
      測試臺選配:般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺,也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率,選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的點與選型參考》 
儀器具有測量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、 化程度、結構緊湊、使用簡便等點。 
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率(括號內(nèi)為可向下拓展1個數(shù)量) 
    電    阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103  Ω 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω) 
    電 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103  Ω-cm 
               (1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm) 
    方塊電阻:50.0×10-6 ~ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103  Ω/□  
               (5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103  Ω/□) 
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定) 
    直    徑: DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限 
    DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限. 
     長()度:  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     測量方位:  軸向、徑向均可 
3. 量程劃分及誤差等 
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 
常規(guī)量程 kΩ-cm/□ kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ --- 
Z大拓展量程 --- kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ mΩ-cm/□ 
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB ±1.0%FSB
±4LSB
 
4.工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W 
5.外形尺寸: 245mm(長)×220 mm(寬)×95mm()  
   凈   重:≤1.5~2.0kg

 

 

 

 

數(shù)字式四探針測試儀/電阻率/方阻測試儀 型號:DP-2258A

概述
       DP-2258A型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。
      儀器成套組成:由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。
      主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入;具有零位、滿度自校功能;電壓電流全自動轉換量程;測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀贈設測試結果分類功能,Z大分類10類。
      探頭選配:根據(jù)不同材料性需要,探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
      測試臺選配:般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺,也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率,選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。

       儀器具有測量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、 化程度、結構緊湊、使用簡便等點。
       儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率(可向下拓展1~3個數(shù)量,括號內(nèi)為向下拓展3個數(shù)量)
     電    阻:1.0×10-3 ~ 200.0×105  Ω,    分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×104  Ω
                (1.0×10-6 ~ 200.0×102  Ω,    分辨率0.1×10-6 ~ 0.1×102 Ω)
     電 阻 率:1.0×10-3 ~ 200.0×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×103  Ω-cm
                (1.0×10-6 ~ 200.0×101 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.1×101  Ω-cm)
     方塊電阻:5.0×10-3 ~ 100.0×104 Ω/□  分辨率0.5×10-3 ~ 0.1×103  Ω/□ 
                (5.0×10-6 ~ 100.0×101 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×101  Ω/□)
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)
   直    徑: DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
   DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限.
   長()度:  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
   測量方位:  軸向、徑向均可
3. 量程劃分及誤差等
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 
常規(guī)量程 kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ 
Z大拓展量程 Ω-cm/□ mΩ-cm/□ μΩ-cm/□ 
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB

4) 工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W
5) 外形尺寸:W×H×L=215mm×85mm×190mm 
      凈   重:≤1.5~2.0kg

 

 

 

微量移液器/移液器/微量移液槍 型號:DP27026
產(chǎn)品參數(shù):
1µL~10µL/20µL~200µL/100µL~1000µL/500µL~5000µL

 

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