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      儀表網(wǎng)>產(chǎn)品庫>分析檢測>無損傷檢測>測厚儀>Minitest3100涂層測厚儀

      Minitest3100 Minitest3100涂層測厚儀

      參考價
      面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準
      • 型號Minitest31
      • 品牌
      • 所在地上海市
      • 更新時間2018-05-14
      • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
      • 入駐年限1
      • 實名認證已認證
      • 產(chǎn)品數(shù)量200
      • 人氣值2784
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      上海鼎徵儀器儀表設備有限公司(簡稱“鼎徵設備”),位于上海市。是一家專業(yè)銷售檢測設備、機械設備的廠家。主要產(chǎn)品有:超聲波探傷儀、超聲波測厚儀、涂層測厚儀等檢測設備,。公司一貫堅持“質(zhì)量*,用戶*,優(yōu)質(zhì)服務,信守合同”的宗旨,憑借著高質(zhì)量的產(chǎn)品,良好的信譽,優(yōu)質(zhì)的服務。竭誠與國內(nèi)外商家雙贏合作,共同發(fā)展,共創(chuàng)輝煌!



       

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      德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀
      Minitest3100涂層測厚儀 產(chǎn)品詳情

       

      上海鼎徵儀器儀表設備有限公司

      謝文清

       

      :  279302022

      www.dingzhi18.com

      竭誠歡迎廣大新老客戶前來咨詢洽談談,本公司將以zui熱忱的服務和*惠的價格回饋大家

       

      德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
      MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
      所有型號均可配所有探頭;
      可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
      可使用一片或二片標準箔校準。
       

      MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀功能
      型號
      1100
      2100
      3100
      4100
      MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
      應用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數(shù)據(jù)數(shù))
      1
      1
      10
      99
      每個應用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,可設寬容度極限值)
      -
      1
      10
      99
      可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)
      -
      1
      500
      500
      數(shù)據(jù)總量
      1
      10000
      10000
      10000
      MINITEST統(tǒng)計計算功能
      讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar
      -
      讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
      -
      -
      組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar
      -
      -
      組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
      -
      -
      存儲顯示每一個應用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
      -
      -
      -
      分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值
      -
      -
      顯示并打印測量值、打印的日期和時間
      -
      其他功能
      透過涂層進行校準(CTC)
      -
      在粗糙表面上作平均零校準
      利用計算機進行基礎校準
      補償一個常數(shù)(Offset)
      -
      -
      外設的讀值傳輸存儲功能
      -
      保護并鎖定校準設置
      更換電池是存儲數(shù)值
      設置極限值
      -
      -
      公英制轉換
      連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值
      -
      -
      連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
      -
      -
      浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送
      組內(nèi)單值延遲顯示
      -
      連續(xù)測量模式中顯示zui小值

      可選探頭參數(shù)探頭圖示
      所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
      F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
      N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
      FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
      探頭
      量程
      低端
      分辨率
      誤差
      zui小曲率
      半徑(凸/凹)
      zui小測量
      區(qū)域直徑
      zui小基
      體厚度
      探頭尺寸



       
       
       
       
       
       
       
      F05
      0-500μm
      0.1μm
      ±(1%±0.7μm)
      1/5mm
      3mm
      0.2mm
      φ15x62mm
      F1.6
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      0.5mm
      φ15x62mm
      F1.6/90
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      平面/6mm
      5mm
      0.5mm
      φ8x170mm
      F3
      0-3000μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      0.5mm
      φ15x62mm
      F10
      0-10mm
      5μm
      ±(1%±10μm)
      5/16mm
      20mm
      1mm
      φ25x46mm
      F20
      0-20mm
      10μm
      ±(1%±10μm)
      10/30mm
      40mm
      2mm
      φ40x66mm
      F50
      0-50mm
      10μm
      ±(3%±50μm)
      50/200mm
      300mm
      2mm
      φ45x70mm


       
       
       
      FN1.6
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      F0.5mm
      N50μm
      φ15x62mm
      FN1.6P
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      平面
      30mm
      F0.5mm
      N50μm
      φ21x89mm
      FN2
      0-2000μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      F0.5mm
      N50μm
      φ15x62mm



       
       
       
       
       
       
       
       
       
      N02
      0-200μm
      0.1μm
      ±(1%±0.5μm)
      1/10mm
      2mm
      50μm
      φ16x70mm
      N.08Cr
      0-80μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      2.5mm
      2mm
      100μm
      φ15x62mm
      N1.6
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      2mm
      50μm
      φ15x62mm
      N1.6/90
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      平面/10mm
      5mm
      50μm
      φ13x170mm
      N10
      0-10mm
      10μm
      ±(1%±25μm)
      25/100mm
      50mm
      50μm
      φ60x50mm
      N20
      0-20mm
      10μm
      ±(1%±50μm)
      25/100mm
      70mm
      50μm
      φ65x75mm
      N100
      0-100mm
      100μm
      ±(1%±0.3mm)
      100mm/平面
      200mm
      50μm
      φ126x155mm
      CN02
      10-200μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      平面
      7mm
      無限制
      φ17x80mm
      注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
      N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
      CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

      探頭圖示
      FN1.6
      0~1600μm,φ5mm
      兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

      FN1.6P
      0~1600μm,φ30mm
      兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度


      F05
      0~500μm,φ3mm
      磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
      量程低端分辨宰很高(0.1μm)

      F1.6
      0~1600μm,φ5mm
      磁性測頭
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

      F3
      0~3000μm,φ5mm
      磁性測頭
      可用于較厚的覆層

      F1.6/90
      0~1600μm,φ5mm
      90度磁性測頭
      尤其適合于在管內(nèi)壁測量
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

      F10
      0~10mm,φ20mm
      適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等


      F20
      0~20mm,φ40mm
      適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

      F50
      0~50mm,φ300mm
      適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

      N02
      0~200μm,φ2mm
      非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

      N0.8Cr
      0~80μm,φ2mm
      適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

      N1.6
      0~1600μm,φ2mm
      非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

      N1.6/90
      0~1600μm,φ5mm
      磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
      尤其適合在管內(nèi)壁測量
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

      N10
      0~10mm,φ50mm
      非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

      N20
      0~20mm,φ70mm
      非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

      N100
      0~100mm,200mm
      非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
      CN02
      10~200μm,φ7mm
      用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

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