JW-BK2322型全自動靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀
* 技術(shù)參數(shù)
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工作氣體： 高純氮氣（吸附質(zhì)）
高純氦氣（載氣）
氣體流量： ≤100ml/min
流量控制： 高精密穩(wěn)壓穩(wěn)流系統(tǒng)
流量測定： 高精密氣體流量傳感器
流量顯示： 數(shù)字顯示系統(tǒng)
氮氣分壓： 0.05~0.35 （自動計算）
工作壓力： 常壓
測定范圍： 比表面 ≥0.1M2/g
（無規(guī)定上限）
樣品數(shù)量： BET比表面被測樣品4個
直接對比法被測樣品3個
標(biāo)定方法： 定量體積氮氣 （BET法）
固體標(biāo)樣 （直接對比法）
測量時間： （每個樣品）
≤20分鐘 （BET法）
≤10分鐘 （直接對比法）
測量精度： ≤±3％
* 主要特點
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JW-BK2322型比表面及孔徑分析儀原理及方法
氮吸附法理論
單層與多層吸附理論
BET法比表面積測定（多點法、單點法）
直接對比法比表面積測定
動態(tài)氣相色譜法
JW-BK2324型比表面及孔徑分析儀的功能：
◎ 表面積測定
單點和多點BET比表面、Langmuir比表面、外表面積、微孔總內(nèi)表面積、吸/脫附總孔內(nèi)表面積
◎ 孔體積測定
單點總孔體積、BJH吸/脫附總孔體積、微孔總孔體積
◎ 孔徑測定
吸附平均孔徑、BJH吸/脫附平均孔徑、zui可幾孔徑
◎ 孔徑分布測定
介孔吸/脫附孔徑微分分布（dV/dr—D 、dV/dlogD—D）
介孔吸/脫附孔徑累計分布、微孔和超微孔孔徑分布
◎ 真密度測定
* 儀器介紹
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比表面積是單位質(zhì)量物質(zhì)的總表面積（㎡／g），是超細(xì)粉體材料體別是納米材料zui重要的物性之一。測定比表面的方法很多，其中氮吸附法是zui常用、zui可靠的方法，已列入標(biāo)準(zhǔn)和我國國家標(biāo)準(zhǔn)。
氮吸附法假定粉體的表面吸附了一層氮分子，已經(jīng)知道每個氮分子所占的橫截面積為0.162nm2，則粉體的比表面積（Sg）可由下式求出：Sg = 4.36Vm / W ,式中Vm為重量為W的粉體材料表面氮的單層吸附量。氮吸附儀的主要功能是能測出氮氣吸附量。按照方法不同，氮吸附儀分為靜態(tài)容量法、靜態(tài)重量法和動態(tài)法 （又稱連續(xù)流動色譜法）三種。
動態(tài)法以氮氣為吸附質(zhì)，氦氣為載氣，兩種氣體按比例混合，達(dá)到一定的氮氣分壓，讓這種氣體流經(jīng)裝有粉末樣品的樣品管，當(dāng)樣品管置于液氮溫度時，氮氣在樣品表面產(chǎn)生物理吸附，而氦氣不被吸附，這時氣流中氮氣的濃度減少，
在濃度傳感器上（熱導(dǎo)檢測器）產(chǎn)生電信號，形成一個所謂的氮氣吸附峰，當(dāng)樣品管回到室溫時，樣品表面吸附的氮氣會全部脫附出來，并形成一個脫附峰。吸（脫）附峰面積的大小正比于氮氣的吸附量，也就是正比于樣品的比表面積。
直接對比法是選擇已知比表面積（Sg 0）的標(biāo)準(zhǔn)樣品，與被測樣品并聯(lián)到相同的氣路中，只要先后測出標(biāo)樣和被測樣的脫附峰面積（Ao、Ax）,被測樣品的比表面可由下式求得：Sg＝Sg 0×AxWo／Ao 。其中Wo和分別是標(biāo)樣和被測樣的重量，直接對比法操作簡單，測試速度快，適合于與標(biāo)準(zhǔn)樣品吸附能力相近材料的比表面的快速測定，特別適用于生產(chǎn)的在 線檢測。“直接對比法”測定比表面積有一個局限性，即被測樣品與標(biāo)準(zhǔn)樣品的吸附特性必須*，否則測定的精確性會受到影響。
BET比表面的測定方法則沒有上述的局限性。因為用氮吸附法測定比表面時，必須知道粉體表面對氮氣的單層吸附量Vm ,而實際的吸附量V并非是單層吸附，即所謂多層吸附理論，通過對氣體吸附過程的熱力學(xué)與動力學(xué)分析，發(fā)現(xiàn)了實際的吸附量V與單層吸附量Vm之間的關(guān)系，這 就是的BET方程，BET方程適用于（P/Po）在0.05-0.35范圍中，因此，在０.05-0.35 的范圍中選擇4-5個不同的（P/Po），測出每一個氮分壓下的氮氣吸附量V , 并用P/V（Po-P） 對 （P/Po）作圖，由圖中直線的斜率和截距求出Vm，再由下式求出比表面 S = 4.36×Vm ／W 。本機(jī)就是用BET法測定比表面的儀器。
BET比表面測定在絕大多數(shù)條件下，圖中直線的截距都很小，因此該直線可近似看成是通過坐標(biāo)原點的直線，這時只要在0.05-0.35范圍內(nèi)選擇一個 （P/Po）,做一次試驗,求得一個吸附量V,在P/V（Po-P）-（P/Po）圖上將該點直接與原點相連,得到的直線的斜率的倒數(shù)即為Vm,由此求出 比表面. 單點法測出的比表面誤差在5%左右，也是一種較理想的快速測量方法。
