礦石分析儀（I-CHEQ）的主要特性
I-CHEQ可對各種礦石進行多元素分析，廣泛應(yīng)用于各類礦石的檢測和分析，還應(yīng)用于礦渣精煉分析及考古研究。礦石分析儀I-CHEQ包括銀礦、銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、釩礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實心體、碎片、過濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。
I-CHEQ分析儀可以用來對各種不同類型的礦石進行現(xiàn)場分析。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng)，*性同位素，現(xiàn)場分析時能做出快速而全面的礦石類型研究，對樣品要求低，但是測試結(jié)果準確，能準確分析高濃度樣品，避免了驗證性的實驗室測試。
I-CHEQ分析儀采用了X射線管光源、多光束過濾技術(shù)、以及惠普個人數(shù)位助理技術(shù)（惠普掌 上型電腦），從而使其采測范圍、檢測速度、檢測精度都非常出色，并具有*的升級潛力。
·使用了*的和多用途的x射線資料模式：采用康普頓常態(tài)化校正方法：可以利用“內(nèi)部標準”來進行定量分析，而不需要進行專門的校正。基本參數(shù)：采用半定量分析方式，適合于檢驗各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。實驗校正法：利用“校正曲線”進行校正，允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。
·可以很容易地加入新的元素成份，很容易進行校正。因此，Innov-X a-4000分析儀能夠滿足您當前和未來的需求。
·可以在顯示熒幕上觀看光譜。
·通過對比光譜進行對比分析，顯示出分析結(jié)果，分析結(jié)果將反映是否符合相應(yīng)標準的情況。
·通過更新參數(shù)或更換模式，可以利用存儲的試驗結(jié)果再次進行新的試驗。
·資料安全性：資料以二進位格式存儲于設(shè)備中，以保證資料的完整性。
可檢測標準元素：鈦，釩，鉻，錳，鐵，鈷，鎳，銅，鋅，銣，鍶，鋯，鈮，鉬，銀，錫，銻，鉭，鉿，鎢，鉛，鉍。
