產(chǎn)品特點：
1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量基本精度±0.08%的高精度測量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400
搭配4ch掃描模塊機架，更能實現(xiàn)2MHz阻抗的4ch測量
產(chǎn)品功能：
低電容(高阻抗)測量，提高穩(wěn)定性和以往的產(chǎn)品相比，將測量低電容(高阻抗)時的重復精度提高了一位。
例如：１pF(1MHz，1V)的條件下，測量速度SLOW2的話，重復精度(偏差)*可達0.01%，實現(xiàn)穩(wěn)定測量。
同時，因為也提高了相位的重復精度，所以提高了低電容(高阻抗)測量時的D測量的穩(wěn)定性。
重復精度(偏差)是在*大和*小之差的基礎(chǔ)上計算出來的。
廣范圍的測量頻率
IM3570可在DC和4Hz～5MHz的范圍內(nèi)以5為分辨率(1kHz以下為0.01Hz分辨率)設(shè)置頻帶?？蛇M行共振頻率測量和接近工作條件狀態(tài)下的測量和評估。
15種參數(shù)測量
可測量Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流電阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q的參數(shù)，還可以將需要的參數(shù)讀取至計算機中。
具備接觸檢查功能(開路檢查)
按照4端子測量(僅低阻抗高精度模式時)，2端子測量的接觸檢查功能，可以防止測試端子未接觸被測物時進行誤測。
比較器
LCR模式下，可在1個畫面中從測量項目里判定2種參數(shù)的Hi/IN/Lo。判定方法除了**值設(shè)定以外，還有%設(shè)定、Δ%設(shè)定。使用連續(xù)測量，可判定多個測量條件·測量項目。
BIN測量
可對2個項目進行10個分類和范圍外的分類。
分區(qū)設(shè)置
掃頻范圍可通過設(shè)定多測試801個頻點，分成20個頻率區(qū)間?？梢栽敿氃u估在多個頻率區(qū)間內(nèi)的特性。
內(nèi)部可發(fā)生DC偏置電壓
只需主機即可施加大2.5V的DC偏置電壓進行測量?？煞判?/span>對鉭電容等極性電容器進行測量。充電阻抗為100Ω。
高分辨率，大7位顯示
可進行多7位顯示的高分辨率測量?？稍O(shè)置3~7位的顯示位數(shù)。
測試線長可達4m
4端子的構(gòu)造降低了測試線的影響，測量線長0、1、2、4m時，保證測試精度。自動設(shè)備的排線方便簡單。(根據(jù)線長的不同，精度保證的頻率范圍也不同。
