手持式光譜儀使用要求： 對(duì)于操作人員是有一定要求的，測(cè)試樣品前一定要請(qǐng)儀器廠(chǎng)商的技術(shù)人員現(xiàn)場(chǎng)演示，并且對(duì)技術(shù)人員做操作前的培訓(xùn)。因?yàn)檫@款儀器是檢測(cè)元素，那么一定會(huì)要做放樣檢測(cè)，所以，技術(shù)人員還需要做好防。 對(duì)于環(huán)境也是有一定的要求，不要在潮濕的環(huán)境下工作的，環(huán)境濕度0-95%之間為好，不能在太高溫下操作工作，這樣的理由是避免各類(lèi)磁場(chǎng)的干擾，如此儀器分析的時(shí)候才能檢測(cè)出更的精度。所以，大家在工作的時(shí)候要注意環(huán)境的適合度，很多時(shí)候儀器檢測(cè)不標(biāo)準(zhǔn)跟環(huán)境還是有很大程度上的關(guān)系。 對(duì)于檢測(cè)的樣品也要一些小要求，被測(cè)的物品表面必須光滑、整潔，如此才能避免其他元素的干擾被測(cè)物品的表面是有油污，或重金屬污染，那么檢測(cè)出來(lái)的結(jié)果度沒(méi)那么高，所有儀器都不是的。其實(shí)，手持式光譜儀的操作看起來(lái)很復(fù)雜，但是按照技術(shù)人員的指示一步步去操作，沒(méi)你想的那么復(fù)雜了。
在購(gòu)買(mǎi)便攜式光譜儀的時(shí)候到底要注意哪些問(wèn)題呢？
 1、穩(wěn)定性：分析儀器重要的是穩(wěn)定性,在每次分析前都要進(jìn)標(biāo)樣,所以檢測(cè)結(jié)果一般與真值偏差都不打,關(guān)鍵是同類(lèi)樣品是否在每次分析出來(lái)之后結(jié)果是否一致,如果忽高忽低你知道那個(gè)樣品是合格的 2、分析速度：如果是掃描型的,速度要快 3、波長(zhǎng)范圍：是否能覆蓋你所要檢測(cè)所有元素的譜線(xiàn)范圍 4、光學(xué)分辨率：理論上來(lái)說(shuō)分辨率越高越好,當(dāng)然還看你的樣品情況 5、故障率：這個(gè)不用多說(shuō)，故障率自然越低越好6、售后服務(wù)：機(jī)器用久了都會(huì)出現(xiàn)各種問(wèn)題，售后服務(wù)的好壞也很重要。

手持式光譜儀器具有小巧便攜、操作快捷,體積很小，便攜、方便野外工作，隨時(shí)隨地，隨心所欲的現(xiàn)場(chǎng)分析和原位分析，設(shè)備無(wú)需預(yù)熱，可直接測(cè)試。 手持式xrf熒光光譜儀的特點(diǎn)是無(wú)損、檢測(cè).手持合金測(cè)試儀既可手持1-2秒對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試，也能使用座式對(duì)樣品進(jìn)行較長(zhǎng)時(shí)間的精細(xì)測(cè)試，10秒即可進(jìn)行接近實(shí)驗(yàn)室精度的測(cè)量，整個(gè)檢測(cè)過(guò)程被測(cè)樣品無(wú)任何損壞。高清攝像頭檢測(cè)更加 內(nèi)置500萬(wàn)高清晰攝像頭，可以隨時(shí)觀(guān)察被測(cè)樣品的測(cè)試位置。

合金材料分析 目前在合金材料檢測(cè)領(lǐng)域，它主要用于、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定，是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和制造領(lǐng)域的成份鑒定工具。 重金屬檢測(cè) 除了傳統(tǒng)的合金材料檢測(cè)，貴金屬，RoHs合規(guī)篩查，礦石分析，手持式XRF儀器同樣在地質(zhì)勘探和環(huán)境評(píng)估中發(fā)揮著重要的作用，通過(guò)分析土壤中的重金屬元素，可以知道整個(gè)區(qū)域的礦產(chǎn)分布和污染分布。 其他領(lǐng)域 XRF技術(shù)還可以用于一些新的領(lǐng)域，比如風(fēng)電和汽車(chē)領(lǐng)域，通過(guò)對(duì)油品中金屬元素含量進(jìn)行檢測(cè)，可以間接反映軸承的磨損情況。還有許多新的XRF應(yīng)用領(lǐng)域正在被開(kāi)發(fā)出來(lái)，使得XRF技術(shù)在各個(gè)行業(yè)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。比如工廠(chǎng)的生產(chǎn)制造環(huán)節(jié)的焊接質(zhì)量控制，也會(huì)用到XRF合金分析儀。

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱(chēng)次級(jí)光電效應(yīng)或無(wú)效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線(xiàn)熒光，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此，射線(xiàn)熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測(cè)出熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng),可以知道元素的種類(lèi),這是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線(xiàn)探測(cè)器將樣品元素的X射線(xiàn)的特征譜線(xiàn)的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特息。
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來(lái)源有： (1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不相同時(shí)，可能引起基體線(xiàn)和分析線(xiàn)的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。 (2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線(xiàn)會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別。 (4)未知元素譜線(xiàn)的重疊干擾。如熔煉過(guò)程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對(duì)結(jié)果。