太陽能組件EL檢測(cè)儀
ZQ150
u 采用2400萬像素相機(jī)
u 測(cè)試速度快，測(cè)試周期達(dá)到5S/PCS
u 高清顯示器： 43英寸屏幕
u 模塊化設(shè)計(jì)：兼容小組件測(cè)試
u 帶蓋設(shè)計(jì)
產(chǎn)品介紹
ZQ150系列缺陷檢測(cè)用于太陽能晶體硅組件/電池片的缺陷檢測(cè)與維修，可人工對(duì)缺陷進(jìn)行標(biāo)記，保存在本地或遠(yuǎn)端數(shù)據(jù)庫中，PC控制軟件可通過以太網(wǎng)接口實(shí)現(xiàn)與客戶系統(tǒng)對(duì)接，傳輸測(cè)試結(jié)果和報(bào)警信息，并可依據(jù)客戶需求定制功能。
性能特點(diǎn)
u 操作簡(jiǎn)單
采用無蓋設(shè)計(jì)，無需開蓋合蓋，操作方便，層壓前利于返修檢測(cè)
u 半自動(dòng)化測(cè)試
在離線模式時(shí)，可加裝滑軌，提高人工測(cè)試效率
u 可測(cè)缺陷
黑心片、微隱裂、裂片、破洞、斷柵、焊接缺陷等
u 測(cè)試圖片
技術(shù)指標(biāo)
設(shè)備型號(hào) | ZQ150 |
生產(chǎn)指標(biāo) | |
產(chǎn)能 | 5s/pcs（離線典型值） |
max可測(cè)面積 | 2400mm×1400mm |
適用工序 | 層壓前、后組件測(cè)試 |
上料方式 | 手動(dòng) |
測(cè)量指標(biāo) | |
相機(jī)分辨率 | 2400W |
相機(jī)類型 | COMS |
曝光時(shí)間 | 1~30S（可調(diào)） |
顯示器 | 43英寸屏幕 |
電源類型 | 可調(diào)電源 |
電壓范圍 | 0~60V連續(xù)可調(diào) |
電流范圍 | 0~20A連續(xù)可調(diào) |
缺陷類型 | 正常檢測(cè):隱裂/碎片/低效率片/燒結(jié)網(wǎng)紋/材料缺陷/斷柵 |
圖像處理 | EL圖像顯示：圖像放大、條碼顯示、缺陷標(biāo)記 圖像處理：增益、灰度、亮度、對(duì)比度調(diào)節(jié) |
