新一代MK8000系列高靈敏度磁光克爾系統(tǒng)兼具磁光克爾效應(yīng)測(cè)量和磁疇觀測(cè)兩種功能,相比于其它磁性測(cè)量系統(tǒng),具有可測(cè)試樣品單點(diǎn)的微觀磁性,方便測(cè)試磁性材料的各向異性,且可觀測(cè)到磁性材料的動(dòng)態(tài)磁疇等優(yōu)勢(shì)。

MK8000系列可直接獲得縱向、橫向和極向克爾的旋轉(zhuǎn)角或者橢偏率的磁滯回線，也可獲得矯頑力和飽和磁場(chǎng)等磁學(xué)性質(zhì)。利用TTL調(diào)制一款低噪音的激光光源，用高靈敏度的光電傳感管接收光強(qiáng)信號(hào)，并采用鎖相放大器采集鎖頻信號(hào)，使得MK8000系列擁有低噪音、高分辨率和高穩(wěn)定性。

MK8000系列還能利用磁光克爾效應(yīng)測(cè)量磁疇結(jié)構(gòu)。偏振光經(jīng)過(guò)檢偏器后光斑的強(qiáng)度在光斑區(qū)域內(nèi)分布不同，從而得到磁疇結(jié)構(gòu)，由CCD相機(jī)記錄該偏光的變化來(lái)反映磁疇。MK8000系列磁光克爾系統(tǒng)是研究磁性薄膜、磁性納米結(jié)構(gòu)和自旋電子學(xué)的一個(gè)理想工具。

基本功能

單點(diǎn)loop：縱向、橫向和極向克爾效應(yīng)測(cè)試；

區(qū)域mapping：上下左右精細(xì)移動(dòng)樣品，可測(cè)試樣品表面不同點(diǎn)的磁光克爾效應(yīng)；

三百六十度旋轉(zhuǎn)樣品或磁場(chǎng)，可判斷材料磁化難易軸并測(cè)試各向異性；

集成高速CCD和顯微系統(tǒng)，可觀查材料表面形貌，加入檢偏器后還能檢測(cè)出偏振態(tài)隨著磁場(chǎng)變化而引起的光斑強(qiáng)度的分布不同，從而得到磁疇。

主要特點(diǎn)

TTL調(diào)制半導(dǎo)體激光器，光電二極管接收光強(qiáng)，鎖相放大器采集信號(hào)，使系統(tǒng)擁有的靈敏度；

所有光學(xué)器件均高度集成化，用戶只需安裝樣品并微調(diào)樣品桿，即可得到克爾信號(hào)；

集成克爾效應(yīng)測(cè)量和磁疇觀測(cè)顯微鏡觀測(cè)，顯微分辨率為6um；

可以真空原位測(cè)量，并擁有多種磁場(chǎng)和低溫選件。

技術(shù)參數(shù)

克爾角分辨率：小于0.001度；

橢偏率分辨率：小于0.1%；

最小光斑：10微米；

磁場(chǎng)：2.2T（選用EM7電磁鐵）；

旋轉(zhuǎn)角度步進(jìn)0.1度，上下左右位移步進(jìn)10微米；

噪音：小于1%。